中國人民解放軍軍事航天部隊航天工程大學文明獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國人民解放軍軍事航天部隊航天工程大學申請的專利一種用于記錄等離子體形成過程的系統及方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120070172B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-02發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510525735.4,技術領域涉及:G06T3/4038;該發明授權一種用于記錄等離子體形成過程的系統及方法是由文明;常浩;周偉靜;葉繼飛;李南雷設計研發完成,并于2025-04-25向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種用于記錄等離子體形成過程的系統及方法在說明書摘要公布了:本發明涉及激光燒蝕技術領域,公開了一種用于記錄等離子體形成過程的系統及方法,所述方法包括:將激光發生器的高能激光束聚焦到樣品表面產生等離子體;利用高速相機實時捕捉等離子體形成的動態過程,采集得到圖像數據;對圖像數據進行去噪和增強處理后提取得到等離子體發光邊緣特征;將多次重復性實驗中采集得到的不同時刻等離子體圖像進行時序拼接,將多幅圖像數據進行融合,生成等離子體形成過程圖像。應用本發明能夠實時高精度地記錄等離子體形成過程,顯著提高等離子體動態行為的機制研究和實時監控效果。
本發明授權一種用于記錄等離子體形成過程的系統及方法在權利要求書中公布了:1.一種用于記錄等離子體形成過程的方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟: 將激光發生器的高能激光束聚焦到樣品表面產生等離子體;所述樣品表面為具有三角形、或梯形、或圓錐形、或圓弧形表面凸起的粗糙表面; 利用高速相機實時捕捉等離子體形成的動態過程,采集得到圖像數據;還包括以下步驟:利用多個不同波段的濾光片以及多光譜成像傳感器采集捕捉不同波段的圖像數據; 對圖像數據進行去噪和增強處理后提取得到等離子體發光邊緣特征; 將多次重復性實驗中采集得到的不同時刻等離子體圖像進行時序拼接,將多幅圖像數據進行融合,生成等離子體形成過程圖像;具體包括:通過在多次重復性實驗的同一過程中不同時刻進行拍照,獲得不同時刻等離子體圖像;利用圖像拼接得到不同時刻的融合等離子體圖像;利用獲得的不同時刻等離子體圖像進一步得到差分圖像,采用某一時刻等離子圖像減去前一時刻等離子體圖像得到相鄰時刻的差分圖像,差分圖像用于判斷等離子體噴射方向,根據噴射方向進一步得到樣品表面材料受激光輻照后獲得的反沖沖量方向,從而判斷等離子體噴射對沖量方向的形成過程; 根據捕捉的不同波段的圖像數據,選取分立譜線確定樣品的材料成分特征并計算得到等離子體溫度特征,通過等離子體羽流邊緣的特征提取算法和特定波長的濾光片組合,得到不同燒蝕材料激光作用產生的噴射等離子體中特定價態離子的空間分布情況; 所述對圖像數據進行去噪和增強處理后提取得到等離子體發光邊緣特征,包括:通過對圖像進行向上采樣放大圖像增強其分辨率,在不同尺度下提取圖像特征得到發光邊緣特征; 其中,所述通過對圖像進行向上采樣放大圖像增強其分辨率,包括: 獲取原始圖像的第一尺度,其中,W和H分別為寬和高; 采用插值法進行第一次向上采樣,基于原始圖像生成第二尺度的中間圖像;對上采樣得到的中間圖像采用濾波器進行平滑處理; 采用插值法進行第二次向上采樣,基于中間圖像生成第三尺度的放大圖像;對上采樣得到的放大圖像采用濾波器進行平滑處理; 所述在不同尺度下提取圖像特征得到發光邊緣特征,包括: 使用邊緣檢測器對放大圖像進行等離子體邊緣特征提取,得到放大圖像的二值化邊緣圖; 對于邊緣圖中每個被檢測到的邊緣像素,根據找到其對應的原始像素位置,并在原始圖像的邊緣圖像中設置為1。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人中國人民解放軍軍事航天部隊航天工程大學,其通訊地址為:101416 北京市懷柔區八一路1號;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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