杭州極弱磁場國家重大科技基礎設施研究院周偉勇獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉杭州極弱磁場國家重大科技基礎設施研究院申請的專利一種測量平板磁導率的方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120143028B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-02發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510617902.8，技術領域涉及：G01R33/12；該發明授權一種測量平板磁導率的方法及系統是由周偉勇;馮文軒;蔣錢;秦劍生;王朋飛;葉竟;沈愷設計研發完成，并于2025-05-14向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種測量平板磁導率的方法及系統在說明書摘要公布了：本發明公開了一種測量平板磁導率的方法及系統，包括：在均勻磁場的空間范圍內放置軟磁材料平板；對于所述空間范圍內的若干個測量點，分別測量軟磁材料平板放置前和放置后的磁場強度；建立軟磁材料平板周圍的磁場分布模型，獲取若干個所述測量點的理論磁場強度；計算放置軟磁材料平板后測量點的理論磁感應強度和實際磁感應強度，并建立以平板磁導率為未知量的適應度函數；以適應度函數最小為目標進行優化求解得到平板磁導率。本發明針對屏蔽體實際安裝用的平板樣件進行測試，可以直接得到屏蔽層結構的磁導率，能夠真實反應軟磁材料平板的磁特性；測量獲取磁導率的過程簡單快速，放入待測平板后即可完成數據的讀取和檢測，測試效率高。
本發明授權一種測量平板磁導率的方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種測量平板磁導率的方法，其特征在于，包括： 在均勻磁場的空間范圍內放置軟磁材料平板； 對于所述空間范圍內的若干個測量點，分別測量軟磁材料平板放置前和放置后的磁場強度； 建立軟磁材料平板周圍的磁場分布模型，獲取若干個所述測量點的理論磁場強度； 計算放置軟磁材料平板后測量點的理論磁感應強度和實際磁感應強度，并建立以平板磁導率為未知量的適應度函數； 所述適應度函數為實際磁感應強度向量與理論磁感應強度向量相減所得到的差向量取范數； 實際磁感應強度向量和理論磁感應強度向量分別為實際磁感應強度和理論磁感應強度按照相同的測量點順序排列得到的向量； 以適應度函數最小為目標進行優化求解得到平板磁導率。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人杭州極弱磁場國家重大科技基礎設施研究院，其通訊地址為：310051 浙江省杭州市濱江區濱安路465號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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