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龍圖騰網獲悉北京芯可鑒科技有限公司申請的專利芯片可靠性試驗方法、裝置、系統及電子設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120217911B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-02發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510713167.0，技術領域涉及：G06F30/27；該發明授權芯片可靠性試驗方法、裝置、系統及電子設備是由王立城;王文赫;董廣智;趙文仙;劉佳藝;李纖纖;賀駿;聶聞琪;張陸設計研發完成，并于2025-05-30向國家知識產權局提交的專利申請。

本芯片可靠性試驗方法、裝置、系統及電子設備在說明書摘要公布了：本申請實施例提供了一種芯片可靠性試驗方法、裝置、系統及電子設備，涉及芯片可靠性測試技術領域。其中方法包括：根據待測芯片的芯片類型和試驗項目特點確定試驗項目模型，所述試驗項目模型包括針對所述待測芯片的試驗項目，試驗項目的試驗成本以及試驗項目的能夠決定整體試驗結果的項目結果的發生概率；根據所述試驗項目模型建立試驗項目數據表；基于熵權法對所述試驗項目數據表中的試驗項目進行量化評價，得到試驗項目對應的綜合指標；基于貪婪算法和所述綜合指標選擇不同時間階段的試驗項目，生成試驗方案。本申請提供的實施方式提升了試驗方案設計的科學性。

本發明授權芯片可靠性試驗方法、裝置、系統及電子設備在權利要求書中公布了：1.一種芯片可靠性試驗方法，其特征在于，該方法包括： 根據待測芯片的芯片類型和試驗項目特點確定試驗項目模型，所述試驗項目模型包括針對所述待測芯片的試驗項目，試驗項目的試驗成本以及試驗項目的能夠決定整體試驗結果的項目結果的發生概率；所述試驗項目的試驗成本包括試驗周期和試驗經濟成本；所述能夠決定整體試驗結果的項目結果包括：檢測到導致整體試驗結果不合格的多種缺陷中的至少一種缺陷； 根據所述試驗項目模型建立試驗項目數據表，所述試驗項目數據表中的項目根據所述試驗項目模型中的內容進行確定，所述試驗項目數據表中的數值根據歷史數據進行確定； 基于熵權法對所述試驗項目數據表中的試驗項目進行量化評價，得到試驗項目對應的綜合指標； 基于貪婪算法和所述綜合指標選擇不同時間階段的試驗項目，生成試驗方案，包括：將試驗方案分成若干時間階段，每一時間階段用于執行一個待測芯片的一個試驗項目；從第一時間階段開始，每一時間階段均執行以下步驟：選擇每一待測芯片的尚未列入試驗方案中的綜合指標最大的試驗項目為待選試驗項目；在所述待選試驗項目滿足實施條件的情況下，將所述待選試驗項目列入當前時間階段的試驗方案；在所述若干時間階段均執行以上步驟后，得到所述試驗方案。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京芯可鑒科技有限公司，其通訊地址為：102200 北京市昌平區雙營西路79號院中科云谷園11號樓一層；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。