電子科技大學王曉華獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉電子科技大學申請的專利一種基于雙透鏡結構的天線陣列增益增強結構獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116435792B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202310266585.0,技術領域涉及:H01Q15/02;該發明授權一種基于雙透鏡結構的天線陣列增益增強結構是由王曉華;何雨馨;胡儀迪設計研發完成,并于2023-03-17向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于雙透鏡結構的天線陣列增益增強結構在說明書摘要公布了:本發明公開了一種基于雙透鏡結構的天線陣列增益增強結構,屬于射頻通信技術領域。本發明所述增益增強結構包括兩層透鏡;第一層透鏡是主鏡,采用菲涅爾透鏡,用于將球面波轉化為平面波,從而實現增益的增強;第二層透鏡是副鏡,位于天線陣列與主鏡之間,用于為天線陣元提供相位補償。本發明所述基于雙透鏡結構的天線陣列增益增強結構能夠有效實現天線陣列的增益提升;實現載體為FSS,具有剖面低,低成本的特性;在提升陣列增益的同時不改變天線陣列本身的特性,具有便捷可拆卸的特點。
本發明授權一種基于雙透鏡結構的天線陣列增益增強結構在權利要求書中公布了:1.一種基于雙透鏡結構的天線陣列增益增強結構,其特征在于,包括兩層透鏡;第一層透鏡是主鏡,采用菲涅爾透鏡,用于將球面波轉化為平面波,從而實現增益的增強;第二層透鏡是副鏡,位于天線陣列與主鏡之間,用于為天線陣元提供相位補償; 天線陣列的中心與主鏡的焦點重合,位于直角坐標系下的原點;在天線陣列與主鏡之間為每個天線陣元配置一個副鏡;天線陣列所在平面、主鏡、副鏡與xoy平面平行; 天線陣列的中心到主鏡面上任意一點的入射波相位為: 其中,F是主鏡的焦距即焦點到主鏡表面的距離,k0為中心頻率對應的自由空間波數,x和y分別為主鏡表面任意一點的橫坐標和縱坐標; 指向角度為α0的出射波相位為: 則主鏡口徑面上的需要補償的相位分布為: 其中,為參考相位; 電磁波從任意天線陣元所在位置點O'經過對應的副鏡,得到相位補償到達主鏡任意一點C的入射波相位為: 其中,x'和y'分別為副鏡表面上的任意一點的橫坐標和縱坐標,dO'C為點O'到點C的距離,d為副鏡的厚度,θ為點O'和點C的連線與z軸的夾角; 從原點O到點C的入射波相位為: 其中,dOC為原點O到點C的距離; 要實現副鏡需要補償的相位分布如下:
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