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龍圖騰網(wǎng)獲悉錫克拜控股有限公司申請(qǐng)的專利經(jīng)由表面增強(qiáng)拉曼光譜法檢測(cè)并認(rèn)證標(biāo)記中的示蹤物的方法和系統(tǒng)獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN116134495B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202180059993.8，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G07D7/1205；該發(fā)明授權(quán)經(jīng)由表面增強(qiáng)拉曼光譜法檢測(cè)并認(rèn)證標(biāo)記中的示蹤物的方法和系統(tǒng)是由A·莫利納;J·布魯斯特設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2021-07-13向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本經(jīng)由表面增強(qiáng)拉曼光譜法檢測(cè)并認(rèn)證標(biāo)記中的示蹤物的方法和系統(tǒng)在說(shuō)明書摘要公布了：本發(fā)明涉及一種方法和相應(yīng)的系統(tǒng)，其能夠通過(guò)使用適于進(jìn)行施加在有價(jià)證券上的機(jī)器可讀標(biāo)記的拉曼光譜分析的拉曼光譜儀來(lái)檢查在該標(biāo)記上是否存在具有獨(dú)特特性表面增強(qiáng)散射特征的真SERS或SERRS示蹤物。根據(jù)本發(fā)明的方法使得能夠可靠且快速地檢測(cè)SERSSERRS示蹤物的存在，并且特別適合于檢查正在以給定速度并且可能高速相對(duì)于拉曼光譜儀移動(dòng)、或者短暫地暴露于拉曼光譜儀的例如鈔票等的有價(jià)證券的真實(shí)性。

本發(fā)明授權(quán)經(jīng)由表面增強(qiáng)拉曼光譜法檢測(cè)并認(rèn)證標(biāo)記中的示蹤物的方法和系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種用于認(rèn)證標(biāo)記的方法，所述標(biāo)記施加在基材上并且具有包括第一材料的組分，所述第一材料包括SERS示蹤物或SERRS示蹤物，所述方法的特征在于包括由包括光源、拉曼光譜儀、成像單元、以及具有處理單元和存儲(chǔ)器的控制單元的系統(tǒng)進(jìn)行的以下步驟，其中，所述光源由所述控制單元經(jīng)由電流回路控制以遞送經(jīng)校準(zhǔn)的激發(fā)光： 在所述存儲(chǔ)器中將施加在真基材上且具有包括真第一材料的組分的真標(biāo)記的拉曼光譜的完整模型存儲(chǔ)為以下三者的第一加權(quán)和：在用激發(fā)光分別照射真示蹤物、參考真基材和參考真第一材料的情況下收集的所述真示蹤物的參考拉曼光譜、未用所述真示蹤物標(biāo)記的參考真基材的參考拉曼光譜、以及不包括所述真示蹤物的參考真第一材料的參考拉曼光譜，所述真第一材料包括真SERS示蹤物或真SERRS示蹤物； 在所述存儲(chǔ)器中將簡(jiǎn)化標(biāo)記的拉曼光譜的簡(jiǎn)化模型存儲(chǔ)為所述參考真基材的參考拉曼光譜和所述參考真第一材料的參考拉曼光譜的第二加權(quán)和，所述簡(jiǎn)化標(biāo)記與所述真標(biāo)記的不同之處僅在于所述簡(jiǎn)化標(biāo)記的組分不包括所述真示蹤物； 在用所述激發(fā)光照射所述標(biāo)記的情況下，經(jīng)由拉曼光譜儀測(cè)量被所述標(biāo)記散射的相應(yīng)拉曼光信號(hào)，以獲得所述標(biāo)記的測(cè)量拉曼光譜； 通過(guò)所述處理單元： 通過(guò)計(jì)算所述完整模型中的權(quán)重的如下值并獲得相應(yīng)的第一殘差，來(lái)將所述測(cè)量拉曼光譜與所述拉曼光譜的完整模型擬合，所述值在所述權(quán)重的非負(fù)性約束下使所述完整模型和所述測(cè)量拉曼光譜之間的差最小化； 通過(guò)計(jì)算所述簡(jiǎn)化模型中的權(quán)重的如下值并獲得相應(yīng)的第二殘差，來(lái)將所述測(cè)量拉曼光譜與所述拉曼光譜的簡(jiǎn)化模型擬合，所述值在所述權(quán)重的非負(fù)性約束下使所述簡(jiǎn)化模型和所述測(cè)量拉曼光譜之間的差最小化； 根據(jù)所獲得的第一殘差和第二殘差來(lái)計(jì)算與針對(duì)所述測(cè)量拉曼光譜的完整模型與簡(jiǎn)化模型的比較的F檢驗(yàn)相對(duì)應(yīng)的F值；以及 基于所計(jì)算出的F值來(lái)決定在所述標(biāo)記中是否存在所述示蹤物。

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