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龍圖騰網獲悉安慶師范大學申請的專利基于測試時間成本動態調整的分項測試方法及裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN116930706B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202310826406.4，技術領域涉及：G01R31/26；該發明授權基于測試時間成本動態調整的分項測試方法及裝置是由詹文法;郝凱明;潘盼;章禮華;鄭江云;張慶平;蔡雪原;梁琦;吳兆旺;余儲賢;胡心怡設計研發完成，并于2023-07-06向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于測試時間成本動態調整的分項測試方法及裝置在說明書摘要公布了：本發明公開了基于測試時間成本動態調整的分項測試方法及裝置，所述方法包括：根據當前批次所有測試單元的總測試時間以及測試單元的排序預測下一批次測試時所有測試單元的總測試時間以及測試單元的排序，若預測的下一批次所有測試單元的總測試時間大于等于當前批次總測試時間，則當前測試單元的排序不變，若預測的下一批次所有測試單元的總測試時間小于當前批次總測試時間，則采用預測的下一批次測試單元的排序對所有測試單元進行重新排序；本發明的優點在于：減少測試時間，提高測試效率。

本發明授權基于測試時間成本動態調整的分項測試方法及裝置在權利要求書中公布了：1.基于測試時間成本動態調整的分項測試方法，其特征在于，所述方法包括：根據當前批次所有測試單元的總測試時間以及測試單元的排序預測下一批次測試時所有測試單元的總測試時間以及測試單元的排序，若預測的下一批次所有測試單元的總測試時間大于等于當前批次總測試時間，則當前測試單元的排序不變，若預測的下一批次所有測試單元的總測試時間小于當前批次總測試時間，則采用預測的下一批次測試單元的排序對所有測試單元進行重新排序； 計算第次測試時所有測試單元的總測試時間，記錄第次測試時測試單元的排序； 預測的第次測試時所有測試單元的總測試時間并設置相關約束條件； 相關約束條件各式聯立，通過python相關的工具計算出第次測試時所有測試單元的測試不合格量，并且按照測試不合格量從大到小順序將測試單元排序；若大于等于，則當前測試單元的排序不變，若小于，則采用預測的第次測試單元的排序對所有測試單元進行重新排序； 所述第次測試時所有測試單元的總測試時間為，其中，表示測試單元中單個測試項測試時間，表示第次測試時第個測試單元的測試不合格數量； 預測的第次測試時所有測試單元的總測試時間為 設置相關約束條件： 其中，表示所有測試單元總的測試次數，表示第個測試單元總的測試次數下的總不合格量；表示測試單元測試項數量； 所述相關約束條件還包括： 其中，表示第個測試單元總的測試次數下的總合格量。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人安慶師范大學，其通訊地址為：246133 安徽省安慶市宜秀區集賢北路1318號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。