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龍圖騰網(wǎng)獲悉南京航空航天大學(xué)申請的專利一種面向各向異性頻散結(jié)構(gòu)的高精度快速損傷成像方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN116539730B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-22發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202310652578.4，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N29/06；該發(fā)明授權(quán)一種面向各向異性頻散結(jié)構(gòu)的高精度快速損傷成像方法是由蔡建;周智權(quán);余曉東;姚曉增;費偉民設(shè)計研發(fā)完成，并于2023-06-02向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種面向各向異性頻散結(jié)構(gòu)的高精度快速損傷成像方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種面向各向異性頻散結(jié)構(gòu)的高精度快速損傷成像方法，包括以下步驟：S1、獲取完備波數(shù)曲線集；S2、得到頻散補償損傷散射信號數(shù)據(jù)庫；S3、將待監(jiān)測各向異性結(jié)構(gòu)中各點均視為潛在損傷點，從頻散補償損傷散射信號數(shù)據(jù)庫中查詢，得到與其中任意一點最匹配的頻散補償結(jié)果并計算該點的像素值；S4、循環(huán)執(zhí)行步驟S3，直至完成待監(jiān)測各向異性結(jié)構(gòu)上待監(jiān)測區(qū)域所有點的像素值計算。本發(fā)明采用上述一種面向各向異性頻散結(jié)構(gòu)的高精度快速損傷成像方法，通過中心頻率處的波數(shù)差尋優(yōu)，從數(shù)據(jù)庫中提取出潛在損傷路徑的匹配頻散補償結(jié)果，避免了在計算每個潛在損傷點像素值時都進行一次頻散補償處理。

本發(fā)明授權(quán)一種面向各向異性頻散結(jié)構(gòu)的高精度快速損傷成像方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種面向各向異性頻散結(jié)構(gòu)的高精度快速損傷成像方法，其特征在于：包括以下步驟： S1、獲取在待監(jiān)測各向異性結(jié)構(gòu)中各傳播方向上的完備波數(shù)曲線，即完備波數(shù)曲線集； S2、基于完備波數(shù)曲線集得到不同方向?qū)?yīng)下的頻散補償損傷散射信號數(shù)據(jù)庫； 步驟S2所述的頻散補償損傷散射信號數(shù)據(jù)庫中的損傷散射信號經(jīng)稀疏壓電-導(dǎo)波陣列采集； 其具體包括以下步驟： 在稀疏壓電-導(dǎo)波陣列中，依次選擇一個壓電片作為激勵器，將陣列中其它壓電片作為傳感器，分別采集健康和損傷下狀態(tài)結(jié)構(gòu)中各壓電片對的傳感信號，并進行作差處理，得到各壓電片對的損傷散射信號，其中，表示以第個壓電片作為激勵器，以第個壓電片作為傳感器組成的壓電片對，且，為時間變量；表示壓電片的數(shù)量； 步驟S2具體包括以下步驟： S21、波數(shù)曲線集線性化： 以完備波數(shù)曲線集中的波數(shù)曲線作為先驗知識，并根據(jù)公式進行線性化，得到線性化后的波數(shù)曲線集，其中為角頻率，為超聲導(dǎo)波信號的中心角頻率，為所選模式在下的群速度，為插值后等間隔的方向； S22、計算插值映射序列集： 按照函數(shù)計算出插值映射序列集，其中為的逆函數(shù)，和分別為波數(shù)曲線集和在同一方向下的波數(shù)曲線； S23、對頻散的損傷散射信號進行傅里葉變換得到，并按照對進行頻域插值處理得到，即為基于波數(shù)曲線集的頻域插值結(jié)果； S24、對進行逆傅里葉變換得到頻散補償后的損傷散射信號數(shù)據(jù)庫； S3、將待監(jiān)測各向異性結(jié)構(gòu)中各點均視為潛在損傷點，從頻散補償損傷散射信號數(shù)據(jù)庫中查詢，得到與其中任意一點最匹配的頻散補償結(jié)果并計算該點的像素值； 步驟S3具體包括以下步驟： S31、將待監(jiān)測各向異性結(jié)構(gòu)中各點均視為潛在的損傷點，并根據(jù)其中任意一點與各壓電片對的位置，計算得到潛在損傷散射路徑的綜合波數(shù)曲線； S311、設(shè)在待監(jiān)測各向異性結(jié)構(gòu)中存在一任意潛在損傷點，其中和分別為點損傷的橫坐標與縱坐標，且，，為設(shè)定的損傷成像區(qū)域，下標為潛在損傷點的序號，且； S312、根據(jù)點及各壓電片對的位置，計算潛在損傷散射路徑的綜合波數(shù)曲線： ； 其中、和分別為激勵壓電片到潛在損傷散射點信號的傳播方向、路徑長度及波數(shù)曲線，、和分別為潛在損傷散射點到傳感壓電片的信號傳播方向、路徑長度及波數(shù)曲線； S32、從損傷散射信號數(shù)據(jù)庫中查詢得到與綜合波數(shù)曲線最匹配的頻散補償損傷散射信號，并計算該點的像素值； S4、循環(huán)執(zhí)行步驟S3，直至完成待監(jiān)測各向異性結(jié)構(gòu)上待監(jiān)測區(qū)域所有點的像素值計算，即可得到高分辨率損傷成像結(jié)果。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人南京航空航天大學(xué)，其通訊地址為：210016 江蘇省南京市秦淮區(qū)御道街29號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。