買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標(biāo)用IPTOP,全免費(fèi)！專利年費(fèi)監(jiān)控用IP管家,真方便！

龍圖騰網(wǎng)獲悉成都理工大學(xué)申請的專利一種細(xì)粒沉積顆粒的分類方法、系統(tǒng)、介質(zhì)、設(shè)備及終端獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN117079020B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-22發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202311011406.5，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06V10/764；該發(fā)明授權(quán)一種細(xì)粒沉積顆粒的分類方法、系統(tǒng)、介質(zhì)、設(shè)備及終端是由解馨慧;鄧虎成;毛金盺;劉佳杰;韓亞亨設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2023-08-11向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種細(xì)粒沉積顆粒的分類方法、系統(tǒng)、介質(zhì)、設(shè)備及終端在說明書摘要公布了：本發(fā)明屬于油氣資源勘探技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種細(xì)粒沉積顆粒的分類方法、系統(tǒng)、介質(zhì)、設(shè)備及終端，基于多尺度多視域的掃描電鏡鑒定技術(shù)，將細(xì)粒沉積巖的微觀結(jié)構(gòu)圖像進(jìn)行FE?SEM拼接與識別后，利用ImageJ軟件將識別后的圖像進(jìn)行灰度處理，確定細(xì)粒沉積顆粒的微結(jié)構(gòu)特征參數(shù)；利用納米壓痕實(shí)驗(yàn)測量細(xì)粒沉積顆粒硬度和彈性模量的微觀力學(xué)性質(zhì)；利用顆粒的粒徑、扁平度、棱角性、彈性模量和硬度構(gòu)建五單元表征方法，用于確定細(xì)粒沉積顆粒的特征；依據(jù)細(xì)粒沉積顆粒五單元基本性質(zhì)的原則，進(jìn)行細(xì)粒沉積顆粒的組合類型劃分。本發(fā)明的新型圖像分析技術(shù)比在掃描電鏡下局部觀察更為全面、直觀，為微觀結(jié)構(gòu)的量化表征及定性分析提供新的思路。

本發(fā)明授權(quán)一種細(xì)粒沉積顆粒的分類方法、系統(tǒng)、介質(zhì)、設(shè)備及終端在權(quán)利要求書中公布了：1.一種細(xì)粒沉積顆粒的分類方法，其特征在于，包括：基于多尺度多視域的掃描電鏡鑒定技術(shù)，將細(xì)粒沉積巖的微觀結(jié)構(gòu)圖像進(jìn)行FE-SEM拼接與識別后，利用ImageJ軟件將識別后的圖像進(jìn)行灰度處理，確定細(xì)粒沉積顆粒的微結(jié)構(gòu)特征參數(shù)；利用納米壓痕實(shí)驗(yàn)測量細(xì)粒沉積顆粒硬度和彈性模量的微觀力學(xué)性質(zhì)；綜合細(xì)粒沉積顆粒形貌學(xué)和巖石力學(xué)特征，基于顆粒受力作用與變形位移、顆粒幾何參數(shù)，利用顆粒的粒徑、扁平度、棱角性、彈性模量和硬度構(gòu)建五單元表征方法，用于確定細(xì)粒沉積顆粒的特征；依據(jù)細(xì)粒沉積顆粒五單元基本性質(zhì)的原則，進(jìn)行細(xì)粒沉積顆粒的組合類型劃分； 細(xì)粒沉積顆粒的分類方法具體包括以下步驟： 步驟一，基于多尺度多視域的掃描電鏡鑒定技術(shù)，結(jié)合ImageJ軟件確定細(xì)粒沉積顆粒的微觀形貌特征； 步驟二，利用納米壓痕實(shí)驗(yàn)確定細(xì)粒沉積顆粒微觀力學(xué)性質(zhì)特征； 步驟三，細(xì)粒沉積顆粒微觀結(jié)構(gòu)特征定量表征：利用顆粒的粒徑、扁平度、棱角性、彈性模量和硬度構(gòu)建五單元表征方法確定細(xì)粒沉積顆粒的特征；基于顆粒五單元基本性質(zhì)的原則，根據(jù)細(xì)粒沉積顆粒五單元?dú)w一化參數(shù)進(jìn)行細(xì)粒沉積顆粒的組合類型劃分。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人成都理工大學(xué)，其通訊地址為：610059 四川省成都市成華區(qū)二仙橋東三路1號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。