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          • 本發(fā)明涉及鏡片裝配技術(shù)領(lǐng)域,提供一種鏡片膠裝治具及鏡片膠裝方法,鏡片膠裝治具包括拾片機(jī)構(gòu)、按壓機(jī)構(gòu)和負(fù)壓箱,拾片機(jī)構(gòu)包括第一定位部,第一定位部用于與鏡片連接;按壓機(jī)構(gòu)用于推動(dòng)拾片機(jī)構(gòu)沿第一定位部至殼體的方向移動(dòng);殼體、按壓機(jī)構(gòu)及拾片機(jī)構(gòu)均設(shè)...
          • 本發(fā)明提供一種封裝結(jié)構(gòu),包括封裝基板、系統(tǒng)單芯片、至少一輸入輸出電路、多個(gè)光電組件以及有機(jī)中介層。系統(tǒng)單芯片配置于封裝基板上,且包括中央處理單元、圖像處理單元以及存儲(chǔ)器。輸入輸出電路配置于封裝基板上。光電組件彼此分離地配置于封裝基板上,且圍...
          • 本發(fā)明提供了一種激光脈寬展寬裝置和激光系統(tǒng),包括:第一透鏡陣列、多個(gè)不同長度的光纖、第二透鏡陣列和聚焦透鏡;多個(gè)不同長度的光纖具有相同的入射面和出射面;第一透鏡陣列分割激光光束;分割后的激光光束分別在多個(gè)不同長度的光纖中傳輸,基于多個(gè)不同長...
          • 本申請實(shí)施例公開了一種檢測模組及近眼顯示模組,檢測模組包括光波導(dǎo)及檢測單元;其中,光波導(dǎo)至少包含耦入?yún)^(qū)域及耦出區(qū)域;耦入?yún)^(qū)域使得圖像光線耦入所述光波導(dǎo),并將一部分所述圖像光線向所述耦出區(qū)域傳播;耦出區(qū)域用于將所述圖像光線擴(kuò)展傳播,并將一部分...
          • 本申請實(shí)施例公開了一種堆疊式光波導(dǎo)、檢測模組及近眼顯示模組,所述光波導(dǎo)包括彼此堆疊設(shè)置的至少兩個(gè)波導(dǎo)片:第一波導(dǎo)片及第二波導(dǎo)片;波導(dǎo)基體、耦入?yún)^(qū)域、耦出區(qū)域和檢測耦出區(qū)域;其中,所述第一波導(dǎo)片包括:第一波導(dǎo)基體、第一耦入?yún)^(qū)域、第一耦出區(qū)域和...
          • 本申請實(shí)施例公開了一種光波導(dǎo)、檢測模組及近眼顯示模組,光波導(dǎo)包括波導(dǎo)基體、耦入?yún)^(qū)域、耦出區(qū)域、第一檢測耦出區(qū)域及第二檢測耦出區(qū)域,耦入?yún)^(qū)域使得圖像光線耦入所述光波導(dǎo),并將所述圖像光線向所述耦出區(qū)域傳導(dǎo),耦出區(qū)域用于將所述圖像光線擴(kuò)展傳播,并...
          • 本申請實(shí)施例公開了一種光波導(dǎo)、檢測模組及近眼顯示模組,光波導(dǎo)包括波導(dǎo)基體、耦入?yún)^(qū)域、耦出區(qū)域和檢測耦出區(qū)域,耦入?yún)^(qū)域使得圖像光線耦入所述光波導(dǎo),并將所述圖像光線向所述耦出區(qū)域傳導(dǎo),耦出區(qū)域用于將所述圖像光線擴(kuò)展傳播,并將一部分?jǐn)U展后的圖像光...
          • 本發(fā)明提供一種智能交互平板的防眩光低閃點(diǎn)玻璃及其制備方法和顯示器,所述智能交互平板的防眩光低閃點(diǎn)玻璃的表面具有凸出的半橢球形顆粒且所述半橢球形顆粒的底面直徑為7~15μm,所述半橢球形顆粒的高度為0.1~0.35μm;所述半橢球形顆粒的底面...
          • 本發(fā)明提供了一種頁巖油的可動(dòng)性評價(jià)方法及裝置,頁巖油的可動(dòng)性評價(jià)方法包括:對目標(biāo)工區(qū)的頁巖油巖心進(jìn)行多溫階熱解操作,以獲取所述頁巖油巖心的頁巖油組分的熱解烴參數(shù);根據(jù)所述目標(biāo)工區(qū)的核磁測井?dāng)?shù)據(jù)生成不同橫向弛豫時(shí)間對應(yīng)的含油飽和度;通過所述頁...
          • 本發(fā)明提供一種多方位淺井微地震監(jiān)測震源定位方法,該多方位淺井微地震監(jiān)測震源定位方法包括:步驟1,布設(shè)多方位淺井觀測系統(tǒng)連續(xù)采集壓裂微地震監(jiān)測記錄;步驟2,對連續(xù)微地震監(jiān)測記錄進(jìn)行事件識(shí)別和震相初至拾取;步驟3,對微地震事件進(jìn)行偏振分析并實(shí)現(xiàn)...
          • 本發(fā)明提供一種頁巖儲(chǔ)層裂縫密度預(yù)測方法、存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算裝置,所述方法包括:步驟101,對單井巖心進(jìn)行裂縫段和含氣性分析,得到巖心描述的裂縫條數(shù)和裂縫密度;步驟102,根據(jù)巖心分息和測井信息,設(shè)計(jì)單井裂縫正演模擬參數(shù);步驟103,在不同參數(shù)組...
          • 本發(fā)明實(shí)施例公開了磁共振成像系統(tǒng)中的時(shí)鐘同步方法、裝置及磁共振成像系統(tǒng)。方法包括:從MR無線線圈端發(fā)送包含MR數(shù)據(jù)和訓(xùn)練數(shù)據(jù)的信號(hào);MR成像系統(tǒng)采用第二時(shí)鐘作為參考時(shí)鐘,用預(yù)先保存的原始訓(xùn)練數(shù)據(jù)對信號(hào)中的訓(xùn)練數(shù)據(jù)進(jìn)行相干性相位分析,得到第二...
          • 本申請涉及一種電池信息處理方法、裝置、設(shè)備和、存儲(chǔ)介質(zhì)和程序產(chǎn)品,方法包括:在接收到針對目標(biāo)電池的電池信息展示指令后,根據(jù)電池信息展示指令指示的展示內(nèi)容類型標(biāo)識(shí)獲取目標(biāo)電池的目標(biāo)對比圖表,并展示目標(biāo)對比圖表,其中,目標(biāo)對比圖表用于反映目標(biāo)電...
          • 本申請涉及一種電池檢測方法、裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)和程序產(chǎn)品,方法包括:通過根據(jù)獲取的多個(gè)儲(chǔ)能單元的檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)設(shè)基礎(chǔ)故障檢測處理和預(yù)設(shè)高階故障檢測處理,得到電池故障檢測數(shù)據(jù)。進(jìn)一步地,根據(jù)多個(gè)儲(chǔ)能單元的檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行電池壽命評估處理,得到電...
          • 本申請涉及一種電池檢測方法、裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)和程序產(chǎn)品,方法包括:通過根據(jù)獲取的多個(gè)儲(chǔ)能單元的檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)設(shè)基礎(chǔ)故障檢測處理和預(yù)設(shè)高階故障檢測處理。進(jìn)一步地,基于預(yù)設(shè)基礎(chǔ)故障檢測處理和預(yù)設(shè)高階故障檢測處理的結(jié)果得到電池故障檢測數(shù)據(jù)。可...
          • 本申請?zhí)峁┮环N掃描鏈設(shè)計(jì)方法及相關(guān)裝置,該掃描鏈設(shè)計(jì)方法包括:獲取輸入網(wǎng)表,該輸入網(wǎng)表包括M條掃描鏈和測試壓縮邏輯,任意一條掃描鏈中掃描寄存器的個(gè)數(shù)小于等于N;基于該測試壓縮邏輯對該M條掃描鏈進(jìn)行K次壓縮測試,并生成K個(gè)測試激勵(lì),每個(gè)測試激...
          • 本申請公開一種測試裝置和測試設(shè)備,測試裝置用于在測試環(huán)境溫度下對待測芯片進(jìn)行低溫測試,測試裝置包括加熱組件和測試組件。其中,測試組件包括主控芯片、配套電路和電源芯片,加熱組件與主控芯片、配套電路和電源芯片中至少一者接觸,用于在待測芯片的測試...
          • 一種芯片測試裝置、芯片測試系統(tǒng)及芯片測試方法。所述芯片測試裝置包括:測試子板、測試母板及ATE,所述ATE具有測試基板;其中:所述測試子板用于承載待測芯片,并與所述待測芯片的測試管腳電連接;所述測試母板用于承載所述測試子板,以通過所述測試子...
          • 工藝角模擬系統(tǒng)包含頻率產(chǎn)生器、晶體管敏感電路、及工藝角模擬器。頻率產(chǎn)生器用于產(chǎn)生頻率信號(hào)。晶體管敏感電路耦接于頻率產(chǎn)生器,用以接收頻率信號(hào)。工藝角模擬器耦接于晶體管敏感電路,用以接收晶體管敏感電路產(chǎn)生的至少一個(gè)輸出信號(hào)。晶體管敏感電路的至少...
          • 本文公開液晶反射陣天線的測試方法及系統(tǒng)。所述方法包括:將液晶反射陣天線的陣面劃分為多個(gè)區(qū)域并依次成為待測區(qū)域,將待測區(qū)域內(nèi)的所有陣元的控制電壓設(shè)置為統(tǒng)一的第一電壓值,其他陣元設(shè)置為統(tǒng)一的第二電壓值,將近場探頭依次設(shè)置在每個(gè)待測區(qū)域的正上方并...
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