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龍圖騰網獲悉西安電子科技大學申請的專利基于MZM-PM級聯調制的雙邊帶FSI測距系統及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119716885B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-26發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411840355.1，技術領域涉及：G01S17/32；該發明授權基于MZM-PM級聯調制的雙邊帶FSI測距系統及方法是由孫海峰;鄧忠文;劉傳鋒;沈利榮;張樹威;陳文軍;李小平;王玉麟;王文叢設計研發完成，并于2024-12-13向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于MZM-PM級聯調制的雙邊帶FSI測距系統及方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于MZM?PM級聯調制的雙邊帶FSI測距系統及方法，主要解決現有技術中針對絕對距離和相對位移的測量只能單一進行，且測距精度不理想的問題。包括：1構建基于馬赫曾德爾調制器與相位調制器級聯的光頻掃描干涉測距系統并輸出干涉信號；2利用干涉信號與載波和二倍頻載波得到一組正交分量；3利用正交分量得到干涉信號上下邊帶相位的和值并計算相位變化量，獲得物體相對位移；4利用正交分量構建復數信號，并通過全相位FFT得到包含絕對距離信息的干涉信號相位；5通過求解干涉信號的相位差，實現絕對距離的測量。本發明實現了高精度的絕對距離測量和相對位移測量一體化，同時提高了位移測量實時性。

本發明授權基于MZM-PM級聯調制的雙邊帶FSI測距系統及方法在權利要求書中公布了：1.一種基于MZM-PM級聯調制的雙邊帶FSI測距方法，通過基于強度調制器和相位調制器級聯調制的雙邊帶FSI測距系統實現，該系統包括穩頻激光器、馬赫曾德爾調制器MZM、光纖分束器FS、相位調制器PM、摻鉺光纖放大器EDFA、環形器、準直器COL、角錐棱鏡、光纖合束器FC、光電探測器PD和數據采集裝置；其特征在于，包括如下步驟： 1穩頻激光器產生光信號SLt并輸出至馬赫曾德爾調制器MZM； 2MZM實現對光信號SLt的雙邊帶線性調頻，光信號SLt經過調制后得到含有上下兩個邊帶的光信號SDSBt； 3光信號SDSBt經過光纖分束器FS分為兩路光信號L1和L2，其中L1指向相位調制器PM，L2經摻鉺光纖放大器EDFA指向環形器；所述PM對L1進行相位調制得到參考光信號SRSt；EDFA對L2進行功率放大； 4將功率放大后的L2作為測量光信號，通過準直器COL發射出去，到達角錐棱鏡后反射并被準直器接收，得到激光回波信號SMSt； 5將參考光信號SRSt與激光回波信號SMSt在光纖合束器FC處重新匯聚并相互干涉，最后經光電探測器PD探測和數據采集裝置轉換得到干涉信號IMt： 其中，D表示直流偏移；A表示光信號SLt的交流振幅；表示光束L1經過相位調制器后的相位偏移量；為SRSt和SMSt的上邊帶干涉獲得的上邊帶相位，為SRSt和SMSt的下邊帶干涉獲得的下邊帶相位；fL為窄線寬激光器發出激光的中心頻率；f0是掃頻信號源的初始頻率，K是掃頻信號源的掃描速率，π為圓周率；τt＝LOPD+2νtnc是SRSt和SMSt的光程差所對應的時間延遲，v表示物體運動速度，n表示折射率，c是光速；LOPD＝2L表示SRSt與SMSt之間的光程差，L表示距離測量值，t表示信號持續時間； 6利用干涉信號IMt分別與載波信號的基波cosωct和二次諧波cos2ωct計算正交分量S1t和同相分量S2t； 7利用S1t和S2t得到干涉信號IMt上下邊帶相位和的和值并計算相位變化量以及物體相對位移Lre： 8利用S1t和S2t，并通過全相位FFT實現絕對距離Lab的測量，步驟如下： 8.1利用S1t和S2t，構建復信號E1t； 8.2利用復信號E1t通過全相位FFT得到上下邊帶的相位變化量和并計算絕對距離Lab。

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