買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監(jiān)控用IP管家,真方便！

龍圖騰網(wǎng)獲悉中國科學院上海技術(shù)物理研究所申請的專利一種周期性高密度柱形物體均勻性測量與評價的方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN119804439B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202411898901.7，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N21/84；該發(fā)明授權(quán)一種周期性高密度柱形物體均勻性測量與評價的方法是由甘志凱;林春;趙玉;解曉輝設(shè)計研發(fā)完成，并于2024-12-23向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種周期性高密度柱形物體均勻性測量與評價的方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明提供了一種周期性高密度柱形物體均勻性測量與評價的方法，包括步驟S1：利用顯微鏡獲得周期性高密度柱形物體的高度與坐標的數(shù)據(jù)，并將其組織為數(shù)據(jù)矩陣；步驟S2：根據(jù)采集的數(shù)據(jù)矩陣，重建并繪制出周期性高密度柱形物體的原始形貌，計算周期性高密度柱形物體的周期性高密度柱形物體的平均高度，并設(shè)定需要計算均勻性的相對高度；步驟S3：確定數(shù)據(jù)矩陣所包含的每個周期性高密度柱形物體中心的坐標；步驟S4：針對每個周期性高密度柱形物體，在設(shè)定的相對高度下，計算其截面面積，并將結(jié)果存入截面積數(shù)據(jù)矩陣；步驟S5：對截面積數(shù)據(jù)矩陣進行統(tǒng)計分析；步驟S6：根據(jù)步驟S4的計算結(jié)果，繪制在設(shè)定相對高度下的周期性高密度柱形物體截面圖。

本發(fā)明授權(quán)一種周期性高密度柱形物體均勻性測量與評價的方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種周期性高密度柱形物體均勻性測量與評價的方法，用于周期性高密度柱形物體的測量及評價，其特征在于，包括如下步驟： 步驟S1：利用顯微鏡獲得周期性高密度柱形物體的高度與坐標的數(shù)據(jù)，并將其組織為數(shù)據(jù)矩陣； 步驟S2：根據(jù)采集的數(shù)據(jù)矩陣，重建并繪制出所述周期性高密度柱形物體的原始形貌，計算所述周期性高密度柱形物體的平均高度，并設(shè)定需要計算均勻性的相對高度； 步驟S3：確定所述數(shù)據(jù)矩陣所包含的每個周期性高密度柱形物體中心的坐標； 步驟S4：針對每個周期性高密度柱形物體，在設(shè)定的相對高度下，計算其截面面積，并將結(jié)果存入截面積數(shù)據(jù)矩陣； 步驟S5：對所述截面積數(shù)據(jù)矩陣進行統(tǒng)計分析，包括計算平均值、標準差以及變異系數(shù)，以評估均勻性； 步驟S6：根據(jù)步驟S4的計算結(jié)果，繪制在設(shè)定的相對高度下的周期性高密度柱形物體截面圖； 所述步驟S2的具體步驟包括： 步驟S21：底部區(qū)域計算：在底部區(qū)域設(shè)定步進值，計算每一段底部步進值中包含的數(shù)據(jù)點數(shù)量，找出數(shù)據(jù)點數(shù)量最多的步進區(qū)間，將該區(qū)間內(nèi)所有數(shù)據(jù)點的高度值z進行平均計算，所得值作為柱形物體的底部z值； 步驟S22：頂部區(qū)域計算：在頂部區(qū)域定步進值，計算每一段頂部步進值中包含的數(shù)據(jù)點數(shù)量，找出數(shù)據(jù)點數(shù)量最多的步進區(qū)間，將該區(qū)間內(nèi)所有數(shù)據(jù)點的高度值z進行平均計算，所得值作為柱形物體的頂部z值； 步驟S23：所述周期性高密度柱形物體平均高度：所述柱形物體頂部z值與所述底部z值的差值為所述周期性高密度柱形物體的平均高度； 所述步驟S3具體步驟包括： 步驟S31：根據(jù)步驟S2計算的所述周期性高密度柱形物體的平均高度，確定其二分之一平均高度值 步驟S32：利用MATLAB中contour函數(shù)，基于數(shù)據(jù)矩陣提取z＝hmid的等高線數(shù)據(jù)矩陣ContourMatrix； 此矩陣包含了所有所述周期性高密度柱形物體在二分之一平均高度處的數(shù)據(jù)點的坐標x,y； 步驟S33：從ContourMatrix中分離出屬于各個所述周期性高密度柱形物體的數(shù)據(jù)點集合； 步驟S34：對于每個所述周期性高密度柱形物體的數(shù)據(jù)點集合，分別計算其x和y坐標的平均值： 其中N是屬于該所述周期性高密度柱形物體的數(shù)據(jù)點數(shù)量，得到每一個所述周期性高密度柱形物體中心的坐標xcenter，ycenter； 所述步驟S4具體步驟包括： 步驟S41:利用步驟S3得到的每個所述周期性高密度柱形物體的中心坐標，根據(jù)所述周期性高密度柱形物體間的周期性間距d，將初始數(shù)據(jù)矩陣分割為獨立的子矩陣，每個子矩陣對應(yīng)一個所述周期性高密度柱形物體的高度與坐標數(shù)據(jù)； 步驟S42:對每個獨立所述周期性高密度柱形物體的高度與坐標子矩陣，使用MATLAB中的contour函數(shù)，提取在設(shè)定的相對高度z＝hrelative處的等高線數(shù)據(jù)，獲取所述周期性高密度柱形物體在相對高度下的輪廓點x,y； 步驟S43:利用MATLAB中的polyarea函數(shù)，對所述等高線數(shù)據(jù)中的輪廓點x,y計算截面面積A： A＝polyareax,y。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人中國科學院上海技術(shù)物理研究所，其通訊地址為：200083 上海市虹口區(qū)玉田路500號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。