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龍圖騰網獲悉西安電子科技大學申請的專利一種基于多峰點現(xiàn)象的非均勻等離子鞘套分布微波反射診斷方法和系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權專利權，本發(fā)明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120009831B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-26發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉：該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為：202510170226.4，技術領域涉及：G01S7/02；該發(fā)明授權一種基于多峰點現(xiàn)象的非均勻等離子鞘套分布微波反射診斷方法和系統(tǒng)是由楊敏;賈颯;喬龍杰;劉浩巖;權磊;尹詩雨設計研發(fā)完成，并于2025-02-17向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于多峰點現(xiàn)象的非均勻等離子鞘套分布微波反射診斷方法和系統(tǒng)在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種基于多峰點現(xiàn)象的非均勻等離子鞘套分布微波反射診斷方法和系統(tǒng)，該方法通過采用多層雙高斯分布構建非均勻等離子體鞘套電子密度空間分布模型，使用等效傳輸矩陣建立等離子體鞘的反射函數(shù)，對反射函數(shù)進行多高斯擬合并提取擬合曲線中的關鍵特征，將關鍵特征作為神經網絡的輸入對等離子鞘套空間分布參數(shù)進行診斷；系統(tǒng)用于實現(xiàn)該方法；本發(fā)明通過特征提取技術不僅實現(xiàn)了對反射數(shù)據(jù)的降維，去除了冗余信息和噪音，提高了數(shù)據(jù)處理的效率，而且通過構建反向傳播神經網絡，僅需關注最關鍵的特征，減少了訓練時間和計算負擔，同時提升了預測結果的準確性和魯棒性。

本發(fā)明授權一種基于多峰點現(xiàn)象的非均勻等離子鞘套分布微波反射診斷方法和系統(tǒng)在權利要求書中公布了：1.一種基于多峰點現(xiàn)象的非均勻等離子鞘套分布微波反射診斷方法，其特征在于，包括如下步驟： 步驟1：構建非均勻等離子鞘套電子密度空間分布模型，將非均勻等離子鞘套電子密度空間分布模型分割成N層均勻分布的等離子體，并確定每一層等離子體的電子密度； 步驟2：根據(jù)等離子鞘套中每一層等離子體的電子密度，采用等效傳輸矩陣模型構建非均勻等離子鞘套的反射函數(shù)； 步驟3：對步驟2中非均勻等離子鞘套的反射函數(shù)進行多高斯擬合，得到擬合曲線，提取擬合曲線中的特征參數(shù)，所述擬合曲線中的特征參數(shù)包括波峰峰值ak、波峰處入射波的頻率bk以及波峰寬度ck；同時設置擬合曲線中反射數(shù)據(jù)的波峰峰值閾值，判斷出波峰截至頻率fp0，進而診斷等離子鞘套的初始最大電子密度ne0； 步驟4：構建反向傳播神經網絡，并將擬合曲線中的特征參數(shù)和初始最大電子密度ne0作為輸入集以及等離子鞘套的空間分布參數(shù)作為輸出集，對反向傳播神經網絡進行訓練，得到訓練好的非均勻等離子鞘套分布微波反射診斷模型；所述等離子鞘套的空間分布參數(shù)包括等離子鞘套的最大電子密度ne,max、雙高斯分布上升沿參數(shù)α1、等離子鞘套厚度lN以及碰撞頻率ve； 步驟5：采用訓練好的非均勻等離子鞘套分布微波反射診斷模型進行微波反射診斷，得到診斷結果。

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