成都納雷科技有限公司楊朕洲獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉成都納雷科技有限公司申請的專利一種毫米波雷達校準方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120522658B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202511006428.1,技術領域涉及:G01S7/40;該發明授權一種毫米波雷達校準方法是由楊朕洲;張臣勇設計研發完成,并于2025-07-22向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種毫米波雷達校準方法在說明書摘要公布了:本發明屬于雷達校準技術領域,涉及一種毫米波雷達校準方法。該方法包括:在暗室擺放0°初始角度反射器對雷達天線進行校準;確定各個雷達天線陣元的初步校準系數;擺放至少兩個角度不同于初始角度反射器的修正角度反射器;進行SVD分解,得到旋轉矩陣;利用旋轉矩陣修正初步校準系數,得到各組雷達天線的校準系數;利用各組天線的校準系數分別對各個雷達天線進行校準。本發明先進行雷達校準工作,再使用不同于初始角度的角度反射器對雷達校準系數進行修正,從而使得所有雷達天線校準方向一致,解決了復合型天線雷達在暗室校準中存在的問題,修正準確的同時,無需室外校準且無需大形暗室,節約人力及暗室成本。
本發明授權一種毫米波雷達校準方法在權利要求書中公布了:1.一種毫米波雷達校準方法,其特征在于,包括: 在暗室擺放0°初始角度反射器,對雷達天線進行校準,得到校準后的初始角度反射器的坐標表達式; 根據各個雷達天線陣元的幅相數據,確定各個雷達天線陣元的初步校準系數; 在各個雷達天線的波束范圍內擺放至少兩個角度不同于初始角度反射器的修正角度反射器,對各個雷達天線分別進行測角,確定分別以各個雷達天線為原點的坐標系中各個修正角度反射器的坐標表達式; 對校準后的初始角度反射器的坐標表達式與各個修正角度反射器的坐標表達式進行SVD分解,得到旋轉矩陣; 利用旋轉矩陣修正初步校準系數,得到各組雷達天線的校準系數,包括利用旋轉矩陣修正初步校準系數,得到各組雷達天線的校準系數,包括:設為旋轉矩陣,為平移向量,為兩組雷達天線實際指向方向的夾角,為修正用系數,為雷達天線等效陣列,為波長,為初步校準系數,為一組雷達天線的校準系數,為另一組雷達天線的校準系數,.*表示逐元素乘法操作,則:;; 令一組雷達天線的校準系數為初步校準系數,利用旋轉矩陣對初步校準系數進行修正,得到修正后的雷達天線的校準系數: ; ; 利用修正后的雷達天線的校準系數分別對各個雷達天線進行修正; 利用各組天線的校準系數分別對各個雷達天線進行校準。
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