杭州申柯新材料有限公司馬堅強獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉杭州申柯新材料有限公司申請的專利基于光學圖像識別的金屬粉末雜質標定檢測方法和系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120563512B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202511058099.5,技術領域涉及:G06T7/00;該發明授權基于光學圖像識別的金屬粉末雜質標定檢測方法和系統是由馬堅強;李燕;徐素鵬;汪文偉設計研發完成,并于2025-07-30向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于光學圖像識別的金屬粉末雜質標定檢測方法和系統在說明書摘要公布了:本發明涉及圖像數據處理領域,具體為基于光學圖像識別的金屬粉末雜質標定檢測方法和系統,對金屬粉末全局范圍進行子區域劃分和光照參數匹配,確保所有子區域在拍攝期間獲得合適光束照明;根據提取子區域圖像的吸收特征,構建物質聚集分布圖,從中標定雜質富集范圍,縮小對金屬粉末的雜質排查空間范圍;根據從雜質富集范圍的偏振圖像提取的偏振信息數據,得到雜質物理形態分布特征,以此生成金屬粉末的雜質標注圖像。本發明能夠對金屬粉末全局范圍的雜質高效準確定位,以及對金屬粉末內雜質進行富集范圍識別和雜質形態標注,全面標定金屬粉末內的雜質分布狀態,為判斷金屬粉末純度和精確篩選雜質提供可靠依據。
本發明授權基于光學圖像識別的金屬粉末雜質標定檢測方法和系統在權利要求書中公布了:1.基于光學圖像識別的金屬粉末雜質標定檢測方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟: S100:獲取金屬粉末在多個拍攝條件下的原始圖像,以此生成圖像數據集;預處理所述圖像數據集,再利用神經網絡處理所述圖像數據集,對所述金屬粉末全局范圍劃分子區域和匹配光照參數; S200:采集所述金屬粉末全局范圍內每個子區域在所述光照參數下的子區域圖像,提取所述子區域圖像的吸收特征;根據所述吸收特征,構建所述子區域的物質聚集分布圖,從中標定雜質富集范圍; S300:從所述雜質富集范圍的偏振圖像提取偏振信息數據,根據所述偏振信息數據,得到雜質物理形態分布特征,從而生成所述金屬粉末的雜質標注圖像,具體為: 獲取所述雜質富集范圍在多個偏振拍攝操作對應形成的偏振圖像,利用神經網絡分析所有偏振圖像,得到偏振信息數據;其中,所述偏振信息數據是指不同偏振方向光線在所述雜質富集范圍的成像光強占比; 根據所述偏振信息數據,得到雜質尺寸形態分布特征;其中,所述雜質尺寸形態分布特征包括所述雜質富集范圍內不同尺寸雜質的空間位置分布;將所述雜質尺寸形態分布特征映射到所述原始圖像,生成所述金屬粉末的雜質標注圖像。
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