株式會社佐竹坂本尚志獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉株式會社佐竹申請的專利米粒品質測定裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115380202B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202080099701.9，技術領域涉及：G01N21/57；該發明授權米粒品質測定裝置是由坂本尚志;梶山剛志郎設計研發完成，并于2020-12-15向國家知識產權局提交的專利申請。
本米粒品質測定裝置在說明書摘要公布了：本發明提供一種能夠簡便地在短時間內測定白度和光澤值的緊湊的測定裝置。該測定裝置具有：工作臺20，其供載有米粒的試樣盤10載置；光澤測定器30，其對載置于工作臺的試樣盤的米粒的表面照射光澤測定用的光，并接收其反射光，從而來測定米粒的光澤；以及白度測定器40，其也對載置于工作臺的試樣盤照射白度測定用的光，并通過試樣盤接收來自試樣盤的米粒的反射光，從而來測定米粒的白度。
本發明授權米粒品質測定裝置在權利要求書中公布了：1.一種米粒品質測定裝置，其特征在于， 所述米粒品質測定裝置具有： 試樣盤，其包括米粒橫倒而配置一層的光澤用試樣區域以及填充多層米粒的白度用試樣區域； 轉臺，其供所述試樣盤載置； 光澤測定器，其對載置于所述轉臺的所述試樣盤的所述光澤用試樣區域的米粒的表面照射光澤測定用的光，并接收其反射光，從而來測定所述米粒的光澤；以及 白度測定器，其對載置于所述轉臺的所述試樣盤的所述白度用試樣區域的米粒照射白度測定用的光，并接收來自所述試樣盤的米粒的反射光，從而來測定所述米粒的白度， 所述光澤測定器一邊使所述轉臺旋轉一邊向所述光澤用試樣區域的米粒照射所述光澤測定用的光，并接收其反射光，從而按照所述轉臺的旋轉角度算出光澤值之后，求出其平均值， 在所述轉臺的下表面配置有一個以上的基準板， 隨著所述轉臺的旋轉，所述試樣盤和所述一個以上的基準板依次配置在被照射所述白度測定用的光的位置， 所述試樣盤的所述光澤用試樣區域載置于所述轉臺的旋轉中心， 所述白度用試樣區域與所述基準板配置于以所述轉臺的旋轉軸為中心的同一圓上。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人株式會社佐竹，其通訊地址為：日本國東京都；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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