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龍圖騰網獲悉北京空間機電研究所申請的專利一種基于隨機差分的紅外圖像場景校正方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114266708B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202111498638.9，技術領域涉及：G06T5/70；該發明授權一種基于隨機差分的紅外圖像場景校正方法是由王小勇;文高進;吳立民;鐘燦;龍亮;王哲;黃浦設計研發完成，并于2021-12-09向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于隨機差分的紅外圖像場景校正方法在說明書摘要公布了：本發明涉及一種基于隨機差分的紅外圖像場景校正方法，屬于紅外圖像處理領域；能夠在紅外圖像場景校正處理中同時進行均勻場景識別計算和非均勻性校正處理，彌補了傳統紅外圖像場景校正方法的不足的問題，提出了基于隨機差分和以結果圖像非均勻性極小化為目標函數來進行均勻場景像素列集合搜索方法，形成了一種更穩定更有效的紅外圖像場景校正方法，能夠有效識別紅外圖像中的均勻場景區域，最大限度地保持原始圖像信息，獲得穩定的高質量的場景校正結果圖像。

本發明授權一種基于隨機差分的紅外圖像場景校正方法在權利要求書中公布了：1.一種基于隨機差分的紅外圖像場景校正方法，其特征在于：包括如下步驟： 步驟一、輸入m行n列紅外圖像X，并設置初始校正圖Y，令Y＝X；建立初始均勻場景列集合C＝[1，2，…，n]，設置最優均勻場景列集合設置迭代計數b＝1； 步驟二、設置初始列號k＝2，計算第k列的隨機差分和Dk； 步驟三、對k進行判斷，當k＜n時，令k＝k+1，返回步驟二；當k≥n時，進入步驟四； 步驟四、計算隨機差分和Dk的均值 步驟五、找出隨機差分和Dk中所有小于均值的子數列 步驟六、對進行從小到大的排序，獲得更新后子數列 S為更新后子數列中的元素序號； 步驟七、將均勻場景列集合C更新為隨機差分和Dk中所有小于的標號子數列[C1,C2,……,Cq]；q為標號子數列中元素的個數； 步驟八、將最優均勻場景列集合更新為C與的交集，即 步驟九、基于均勻場景列集合C更新校正圖Y； 步驟十、計算最優均勻場景列集合對應的結果圖Z； 步驟十一、計算當前結果圖Z的非均勻性值eb； 步驟十二、對b進行判斷，當b＞1，且|eb-1-eb|＜1.0e-5時，輸出結果圖Z；否則，令b＝b+1，并對更新后的b進行判斷；當時，輸出結果圖Z；當 時，返回步驟二。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京空間機電研究所，其通訊地址為：100076 北京市豐臺區南大紅門路1號9201信箱5分箱；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。