上海精測半導體技術有限公司周全獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉上海精測半導體技術有限公司申請的專利一種圖像質量評估方法、系統、電子設備及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114387222B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202111580891.9，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權一種圖像質量評估方法、系統、電子設備及存儲介質是由周全;李宜清;簡曉敏;肖博翰設計研發完成，并于2021-12-22向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種圖像質量評估方法、系統、電子設備及存儲介質在說明書摘要公布了：本發明提供一種圖像質量評估方法、系統、電子設備及存儲介質，方法包括：基于多個卷積核分別對待評估圖像進行去噪，計算去噪后的待評估圖像的梯度圖，并對梯度圖進行標準化；對標準化后的梯度圖進行二值化，并基于二值化梯度圖提取待評估圖像中的感興趣區域；基于所述感興趣區域的梯度矩陣和所述感興趣區域的面積，計算每一個卷積核去噪后的待評估圖像的質量評分，并計算待評估圖像的最終質量評分。本發明基于多個卷積核對圖像進行濾波，以及基于梯度圖提取圖像中的感興趣區域，有效的去除圖像噪聲，并通過組合評分去評價圖像的質量，進一步減少噪聲對梯度的影響，提高了評估的精確度。
本發明授權一種圖像質量評估方法、系統、電子設備及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種圖像質量評估方法，其特征在于，包括： 基于多個不同的卷積核分別對待評估圖像進行去噪，計算去噪后的待評估圖像的梯度圖，并對所述梯度圖進行標準化； 對標準化后的所述梯度圖進行二值化，并基于二值化梯度圖提取待評估圖像中的感興趣區域； 基于所述感興趣區域的梯度矩陣和所述感興趣區域的面積，計算每一個卷積核去噪后的待評估圖像的質量評分； 基于每一個卷積核去噪后的待評估圖像的質量評分，計算待評估圖像的最終質量評分； 所述對標準化后的所述梯度圖進行二值化，并基于二值化梯度圖提取待評估圖像中的感興趣區域，包括： 使用聚類算法對所述梯度圖進行二值化，基于二值化梯度圖將所述待評估圖像分為兩類，提取梯度值大的一類像素點組成的區域為所述待評估圖像中的感興趣區域。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人上海精測半導體技術有限公司，其通訊地址為：201700 上海市青浦區徐涇鎮雙浜路269、299號1幢1、3層；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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