是德科技股份有限公司M·卡斯帕獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉是德科技股份有限公司申請的專利校準阻抗測量設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN112305480B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：201911005916.5，技術領域涉及：G01R35/00；該發明授權校準阻抗測量設備是由M·卡斯帕設計研發完成，并于2019-10-22向國家知識產權局提交的專利申請。
本校準阻抗測量設備在說明書摘要公布了：一種校準用于測量dut阻抗145的阻抗測量設備100的方法。
本發明授權校準阻抗測量設備在權利要求書中公布了：1.一種校準用于測量被測設備的低水平阻抗的阻抗測量設備的方法，所述方法包括： 在有力與感測走線連接的情況下，使用短路校準標準件在預定的頻率范圍內執行所述阻抗測量設備的短路校準測量，以獲得短路原始數據； 使用第一分流校準標準件在所述預定的頻率范圍內執行所述阻抗測量設備的第一分流校準測量，以獲得第一原始數據，所述第一分流校準標準件具有已知的第一電阻值和未知的第一電感值； 使用第二分流校準標準件在所述預定的頻率范圍內執行所述阻抗測量設備的第二分流校準測量，以獲得第二原始數據，所述第二分流校準標準件具有已知的第二電阻值和未知的第二電感值； 通過使用應用于表示所述阻抗測量設備的系統誤差項的特定誤差模型的所述短路原始數據以及所述第一原始數據和所述第二原始數據計算第一電感值和第二電感值來分別確定所述第一分流校準標準件和所述第二分流校準標準件的第一復阻抗和第二復阻抗；以及 使用所述第一復阻抗和第二復阻抗、所述短路原始數據、以及應用于標準單端口校準程序的所述第一原始數據和所述第二原始數據來確定所述阻抗測量設備的誤差模型的通用誤差系數。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人是德科技股份有限公司，其通訊地址為：美國加利福尼亞州；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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