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龍圖騰網獲悉中山大學申請的專利一種鎖緊釋放機構在軌釋放檢驗質量的空間測試裝置和方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119527587B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411644392.5，技術領域涉及：B64G7/00；該發明授權一種鎖緊釋放機構在軌釋放檢驗質量的空間測試裝置和方法是由薛超;張惠森;鐘泱;施迪文設計研發完成，并于2024-11-18向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種鎖緊釋放機構在軌釋放檢驗質量的空間測試裝置和方法在說明書摘要公布了：本發明涉及精密測量技術領域，公開了一種鎖緊釋放機構在軌釋放檢驗質量的空間測試裝置，包括真空系統、傳感系統和鎖緊釋放機構，通過設置真空腔體，將鎖緊釋放機構和檢驗質量均放置在真空腔體內，用于模擬在軌釋放環境，并且檢驗質量置于傳感系統的安裝殼體內，安裝殼體設有通孔，鎖緊釋放機構穿過通孔可與檢驗質量接觸，安裝殼體上設置若干傳感器，可用于檢測檢驗質量多個自由度的位姿速度，對檢驗質量在軌釋放的位姿信息具有全面檢測，提高驗證性能。本發明還提供一種應用上述裝置的空間測試方法，在微重力、真空環境下測試鎖緊釋放機構。

本發明授權一種鎖緊釋放機構在軌釋放檢驗質量的空間測試裝置和方法在權利要求書中公布了：1.一種鎖緊釋放機構在軌釋放檢驗質量的空間測試裝置，其特征在于，包括真空系統（100）、傳感系統（200）和鎖緊釋放機構（300），所述真空系統（100）包括真空腔體（110），所述傳感系統（200）和所述鎖緊釋放機構（300）位于所述真空腔體（110）內，所述鎖緊釋放機構（300）包括兩個鎖緊釋放單元，所述傳感系統（200）位于兩個所述鎖緊釋放單元之間，所述傳感系統（200）包括安裝殼體（210）和若干檢測單元，所述檢測單元包括若干傳感器，檢驗質量（400）位于所述安裝殼體（210）中，所述安裝殼體（210）相對的兩側均設有通孔（211），所述通孔（211）用于所述鎖緊釋放單元伸入所述安裝殼體（210）內以接觸所述檢驗質量（400），所述傳感器安裝在所述安裝殼體（210）上，所述傳感器用于檢測所述檢驗質量（400）的位姿； 所述傳感系統（200）包括兩個或兩個以上的檢測單元，所述檢測單元均包括軸向傳感器和徑向傳感器，所述軸向傳感器和所述徑向傳感器均安裝在所述安裝殼體（210）上，所述軸向傳感器用于檢測所述檢驗質量（400）的軸向位移，所述徑向傳感器用于檢測所述檢驗質量（400）的徑向位移； 所述檢測單元包括五個軸向傳感器和一個徑向傳感器，分別為第一軸向傳感器（240）、第二軸向傳感器（250）、第三軸向傳感器（260）、第四軸向傳感器（270）、第五軸向傳感器（280）和第一徑向傳感器（290），所述第一軸向傳感器（240）、第二軸向傳感器（250）、第三軸向傳感器（260）設于所述安裝殼體（210）的第一側面（212）上，所述第四軸向傳感器（270）、第五軸向傳感器（280）和第一徑向傳感器（290）設于所述安裝殼體（210）的第二側面（213）上，所述第一側面（212）與所述第二側面（213）相鄰。

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