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龍圖騰網(wǎng)獲悉北京理工大學(xué)申請的專利基于深度學(xué)習(xí)的光學(xué)稀疏孔徑共相位誤差分步檢測方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN119880354B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-23發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202411972996.2，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01M11/02；該發(fā)明授權(quán)基于深度學(xué)習(xí)的光學(xué)稀疏孔徑共相位誤差分步檢測方法是由張曉芳;王偉;胡新奇;董冰設(shè)計研發(fā)完成，并于2024-12-30向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本基于深度學(xué)習(xí)的光學(xué)稀疏孔徑共相位誤差分步檢測方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明提供一種基于深度學(xué)習(xí)的光學(xué)稀疏孔徑共相位誤差分步檢測方法，在光學(xué)稀疏孔徑成像系統(tǒng)同時存在piston和tip?tilt誤差的情況下，依然能夠高精度解耦檢測出系統(tǒng)的piston和tip?tilt誤差；具體的，首先使用同時含有piston和tip?tilt誤差的第一特征圖，基于T?CNN預(yù)測出系統(tǒng)tip?tilt誤差，并進(jìn)行校準(zhǔn)；然后，使用已經(jīng)訓(xùn)練好的僅考慮系統(tǒng)piston誤差情況下的P?CNN對第二特征圖進(jìn)一步預(yù)測系統(tǒng)piston誤差；本發(fā)明的tip?tilt誤差可以達(dá)到1λ50的檢測精度，piston誤差達(dá)到1λ20的檢測精度，最終實(shí)現(xiàn)piston和tip?tilt誤差的高精度檢測。

本發(fā)明授權(quán)基于深度學(xué)習(xí)的光學(xué)稀疏孔徑共相位誤差分步檢測方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種基于深度學(xué)習(xí)的光學(xué)稀疏孔徑共相位誤差分步檢測方法，其特征在于，包括以下步驟： 通過光學(xué)稀疏孔徑成像系統(tǒng)對擴(kuò)展目標(biāo)進(jìn)行成像，由光學(xué)稀疏孔徑成像系統(tǒng)得到對應(yīng)的同時存在piston誤差和tip-tilt誤差的第一特征圖； 將第一特征圖輸入訓(xùn)練好的T-CNN模型，由T-CNN模型輸出tip-tilt誤差預(yù)測值； 根據(jù)tip-tilt誤差預(yù)測值對光學(xué)稀疏孔徑成像系統(tǒng)的tip-tilt誤差進(jìn)行補(bǔ)償，直到光學(xué)稀疏孔徑成像系統(tǒng)滿足設(shè)定精度要求，再通過補(bǔ)償后的光學(xué)稀疏孔徑成像系統(tǒng)獲取第二特征圖； 將第二特征圖輸入訓(xùn)練好的P-CNN模型，由P-CNN模型輸出piston誤差預(yù)測值。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人北京理工大學(xué)，其通訊地址為：100081 北京市海淀區(qū)中關(guān)村南大街5號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。