武漢大學(xué)張琦獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉武漢大學(xué)申請的專利顧及時(shí)空分布的電離層映射函數(shù)的構(gòu)建及改正方法和系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN119849567B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-23發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202510323412.7,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G06N3/0499;該發(fā)明授權(quán)顧及時(shí)空分布的電離層映射函數(shù)的構(gòu)建及改正方法和系統(tǒng)是由張琦;姚宜斌;孔建;張豹;張良設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2025-03-19向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本顧及時(shí)空分布的電離層映射函數(shù)的構(gòu)建及改正方法和系統(tǒng)在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開顧及時(shí)空分布的電離層映射函數(shù)的構(gòu)建及改正方法和系統(tǒng)。本發(fā)明針對電離層時(shí)空變化的復(fù)雜性,導(dǎo)致該誤差很難被完全消除的問題,通過獲取觀測數(shù)據(jù)、計(jì)算STEC、電離層薄層區(qū)域格網(wǎng)劃分、獲取VTEC、構(gòu)建BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(BPNN)模型及選取樣本訓(xùn)練模型的共同作用,提供了一種電離層模型以及基于該模型實(shí)現(xiàn)的電離層改正方法。本發(fā)明能夠適應(yīng)地理位置的差異、日周期變化以及季節(jié)性變化,從而為用戶提供更為精確和可靠的定位服務(wù)。
本發(fā)明授權(quán)顧及時(shí)空分布的電離層映射函數(shù)的構(gòu)建及改正方法和系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了:1.一種顧及時(shí)空分布的電離層映射函數(shù)的構(gòu)建方法,其特征在于,結(jié)合實(shí)時(shí)或近實(shí)時(shí)電離層監(jiān)測數(shù)據(jù),動態(tài)更新映射函數(shù)以適應(yīng)地理位置和時(shí)間變化,所述方法包括: 獲取顧及時(shí)空分布的多因素?cái)?shù)據(jù),包括接收機(jī)處的觀測數(shù)據(jù)、位置、鐘差、電離層和差分碼偏差; 根據(jù)獲取的多因素?cái)?shù)據(jù)進(jìn)行非差非組合估計(jì),計(jì)算得到電離層穿刺點(diǎn)的高度角、方位角、經(jīng)度、緯度及電離層STEC; 對接收機(jī)處的電離層薄層區(qū)域進(jìn)行格網(wǎng)劃分,結(jié)合電離層STEC,計(jì)算每一格網(wǎng)的VTEC; 選擇BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)構(gòu)建電離層模型,其輸入層為高度角、方位角、經(jīng)度、緯度、時(shí)間和VTEC,輸出層為改正的電離層STEC,隱藏層的最佳神經(jīng)元節(jié)點(diǎn)數(shù)為8; 選取VTEC訓(xùn)練樣本,對構(gòu)建的電離層模型進(jìn)行訓(xùn)練,輸出訓(xùn)練好的電離層模型用于電離層延遲改正。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人武漢大學(xué),其通訊地址為:430072 湖北省武漢市武昌區(qū)八一路299號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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