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龍圖騰網獲悉成都凌亞科技有限公司申請的專利一種計算處理模塊成品監測方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120314320B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510809947.5，技術領域涉及：G01N21/88；該發明授權一種計算處理模塊成品監測方法及系統是由馮占軍;林永浩設計研發完成，并于2025-06-17向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種計算處理模塊成品監測方法及系統在說明書摘要公布了：本發明涉及集成電路板成品檢測技術領域，具體而言，涉及一種計算處理模塊成品監測方法及系統，通過設于成品傳輸帶上方的線陣激光掃描儀，實時掃描途經成品傳輸帶上的多個計算處理模塊成品，進而得到每個計算處理模塊成品對應的光譜圖樣；在光譜圖樣中標識出多個芯片組件對應的局部光譜圖樣；依次檢測每個局部光譜圖樣是否存在平面瑕疵，若存在，則評估平面瑕疵的損傷面，并基于損傷面占比評估損傷芯片組件的破損程度。本發明所述的監測方法通過線陣激光掃描儀實時生成表征高度信息的光譜圖樣，結合RGB顏色閾值與圖像特征提取算法，精準識別多個芯片組件的局部區域，有效避免多組件密集排布導致的干擾，提升平面瑕疵檢測的定位精度和抗噪能力。

本發明授權一種計算處理模塊成品監測方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種計算處理模塊成品監測方法，其特征在于，所述方法包括：通過設于成品傳輸帶上方的線陣激光掃描儀，實時掃描途經成品傳輸帶上的多個計算處理模塊成品，進而得到每個計算處理模塊成品對應的光譜圖樣，所述光譜圖樣中的顏色用于表征計算處理模塊成品上表面的高度信息，所述計算處理模塊成品包括PCB板和多個設于PCB板上的芯片組件；基于預設的多個RGB顏色閾值結合顏色類的圖像特征提取算法在光譜圖樣中標識出多個芯片組件對應的局部光譜圖樣；依次檢測每個局部光譜圖樣是否存在平面瑕疵，若存在，則評估平面瑕疵的損傷面，并基于損傷面占比評估損傷芯片組件的破損程度；若破損程度低于預設閾值，則測試損傷芯片組件對應的功能參數，并在功能參數均在預設閾值范圍內的情況下，判定對應的計算處理模塊成品為微瑕產品； 其次，檢測每個局部光譜圖樣是否存在平面瑕疵，若存在，則評估平面瑕疵的損傷面，包括：基于顏色類的圖像特征提取算法識別局部光譜圖樣中的多個非平面紋理特征，并剔除標準非平面紋理特征，進而得到平面瑕疵對應的多個非平面紋理特征，記為瑕疵紋理特征；基于瑕疵紋理特征的幾何特征，將多個瑕疵紋理特征分為條形瑕疵紋理特征和塊狀型瑕疵紋理特征；依次將條形瑕疵紋理特征按照預設水平或垂直單位長度進行分段，得到多個單元條形瑕疵紋理特征，基于單元條形瑕疵紋理特征的兩端構建分割直線，進而將單元條形瑕疵紋理特征分割為上凸紋理曲線和或下凸紋理曲線；基于上凸紋理曲線和或下凸紋理曲線的凸出程度計算上凸紋理曲線和或下凸紋理曲線在分割直線法向上的平移量，并基于平移量得到平移修正后的單元條形瑕疵紋理特征；基于平移修正后的單元條形瑕疵紋理特征的最高點和最低點構建單位長度的矩形面，多個單位長度的矩形面構成條形瑕疵紋理特征對應的損傷面，其中矩形面的上邊和底邊的高度分別對應最高點和最低點。

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