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龍圖騰網獲悉中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請的專利一種光學成像和雷達探測共孔徑成像系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120468834B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510965240.3，技術領域涉及：G01S13/86；該發明授權一種光學成像和雷達探測共孔徑成像系統是由姜肖楠;賈平;黃澤賢;吳凡路;李超;徐萌萌;付天驕;孫僑;姚園;傅瑤;張雨;王巖松設計研發完成，并于2025-07-14向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種光學成像和雷達探測共孔徑成像系統在說明書摘要公布了：本發明涉及空間探測技術領域，具體提供一種光學成像和雷達探測共孔徑成像系統，包括光波和微波共孔徑的同軸反射鏡組、雷達饋源、光學成像系統，以及用于分離光波和微波的分頻分光元件，其中，同軸反射鏡組不僅用于收集光波，還與雷達饋源構成微波的收發天線，負責微波的發射和接收，同軸反射鏡組收集的光波被分頻分光元件反射向光學成像系統進行光學成像，微波透射經過分頻分光元件，射向雷達饋源進行雷達探測。本發明不僅實現了光學成像和雷達探測的共孔徑設計，并且將雷達饋源和光學成像系統設置在同軸反射鏡組的同側，降低系統復雜度，此外，采用透微波反光波的分光分頻方式，解決了因金屬格柵多級衍射造成的光學成像質量下降的問題。

本發明授權一種光學成像和雷達探測共孔徑成像系統在權利要求書中公布了：1.一種光學成像和雷達探測共孔徑成像系統，其特征在于，包括：光波和微波共孔徑的同軸反射鏡組、分頻分光元件、雷達饋源和光學成像系統； 所述同軸反射鏡組用于收集光波和微波，并將光波和微波射向所述分頻分光元件； 所述分頻分光元件用于在回波成像過程中將光波與微波分離，微波由所述分頻分光元件透射，并射向所述雷達饋源；光波被所述分頻分光元件反射，射向所述光學成像系統； 所述分頻分光元件包括：石墨烯控制層，通過控制所述石墨烯控制層上施加的電壓，改變所述分頻分光元件的微波透射率；所述石墨烯控制層包括石墨烯層、柵極電介質層和頂柵電極，其中，所述頂柵電極用于提供可控的電壓，所述頂柵電極的電壓通過所述柵極電介質層施加在所述石墨烯層，當所述石墨烯層上施加電壓，所述石墨烯層的表面導電率增大，對微波呈吸收態，透射過所述分頻分光元件的微波功率降低；當所述石墨烯層上無施加電壓，微波完全透射過所述分頻分光元件； 所述雷達饋源用于微波收發及成像； 所述光學成像系統用于接收光波及成像。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院長春光學精密機械與物理研究所，其通訊地址為：130033 吉林省長春市經濟技術開發區東南湖大路3888號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。