南京航空航天大學馬鵬輝獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉南京航空航天大學申請的專利一種基于陣列移動獲得無孔差陣的均勻采樣方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114325564B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-19發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202111588281.3,技術領域涉及:G01S3/14;該發明授權一種基于陣列移動獲得無孔差陣的均勻采樣方法是由馬鵬輝;李建峰;潘晶晶;張小飛設計研發完成,并于2021-12-23向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于陣列移動獲得無孔差陣的均勻采樣方法在說明書摘要公布了:本發明公開了一種基于陣列移動獲得無孔差陣的均勻采樣方法,包括:求陣列差共陣中元素位置集合并記錄元素間最大間隔的長度h在當前時刻t進行采樣,記錄此時的陣列輸出數據;隨著陣列的移動,依次在時刻t+dv,t+2dv,...,處進行采樣;將采樣數據進行合成,得到合成陣列的輸出;利用空間平滑類子空間方法對合成陣列的輸出進行處理,即可得到相比于原始陣列精度更高的DOA估計值。本發明能夠充分利用陣列的移動特性,結合在特定點進行采樣獲得的陣列輸出,得到差陣完全連續的、自由度更高、估計效果更好的合成陣列。
本發明授權一種基于陣列移動獲得無孔差陣的均勻采樣方法在權利要求書中公布了:1.一種基于陣列移動獲得無孔差陣的均勻采樣方法,其特征在于,所述均勻采樣方法包括: 步驟S1、針對一物理陣列,確定其陣元位置集合其中,所述物理陣列用于進行DOA估計;所述物理陣列具有N個陣元,則其陣元的位置集合為 步驟S2、針對步驟S1中的物理陣列,計算其差陣的陣元位置集合 步驟S3、針對步驟S2中得到的陣元位置集合計算其最大連續孔洞的長度h; 步驟S4、以t時刻為陣列初始采樣時刻,并依次在時刻進行采樣,得到對應時刻的輸出值,其中,d等于入射信號半波長的值,v為陣列運動速度; 步驟S5、對步驟S4中得到的不同時刻的輸出值進行相位補償后,再進行合成,得到合成陣列的輸出; 步驟S6、對步驟S5中得到的合成陣列采用虛擬化的方法,得到其差陣的輸出; 步驟S7、對步驟S6中得到的差陣采用空間平滑類子空間方法,得到最終DOA估計值; 在所述步驟S4中,當處于初始采樣時刻t時,此時的陣列輸出矢量為: 公式1中,K表示入射到陣列的信源數量,v表示陣列移動的速度,aθk為陣列導向矢量,aθk=[exp-j2πd1sinθkλ,...,exp-j2πdLsinθkλ]Tk∈[1,2,...,K],sk為信號幅度,w0為入射信號的頻率,c為入射信號的傳播速度,λ表示入射信號波長;A=[aθ1,aθ2,...,aθK]為陣列的方向矩陣,st=[s1texp-j2πvtsinθ1λ,...,sKtexp-j2πvtsinθKλ]表示入射信號矢量,nt為噪聲矢量; 在所述步驟S4中,在時刻進行采樣時,其對應的輸出值為: 公式2和公式3中,Q表示為 在所述步驟S5中,進行相位補償,其表達式具體為: 公式4和公式5中,Q表示為 在所述步驟S5中,所述進行合成,其表達式為: 公式6中,其中,對應于yt的合成陣列的表達式為 在所述步驟S6中,對合成陣列的輸出采用虛擬化的方法,得到相應的差共陣,具體表達式為:
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