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龍圖騰網獲悉華中科技大學申請的專利一種基于RecTransformer的表面缺陷檢測模型的構建方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115578358B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-19發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211294093.4，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權一種基于RecTransformer的表面缺陷檢測模型的構建方法是由楊華;朱欽淼;尹周平;常靖昀;陳建魁設計研發完成，并于2022-10-21向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于RecTransformer的表面缺陷檢測模型的構建方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于RecTransformer的表面缺陷檢測模型的構建方法，屬于圖像處理領域。通過建立全局注意力機制，充分利用全局信息對缺陷樣本進行補全。具體地，將輸入圖像嵌入到隱空間，建立全局和局部的位置嵌入編碼，將輸入圖像序列化為圖像塊序列；堆疊多個Transformer編碼器模塊，學習隱空間特征；從圖像全局出發，推測局部像素值，并充分利用全局特征信息引導網絡識別缺陷區域；進一步地，建立多頭特征注意力機制，分析patch序列中各patch受影響的程度，將圖像重構任務轉換為patch級別的重構。如此，本發明利用少量缺陷樣本作為訓練數據，即可對缺陷實現精確重構。

本發明授權一種基于RecTransformer的表面缺陷檢測模型的構建方法在權利要求書中公布了：1.一種基于RecTransformer的表面缺陷檢測模型的構建方法，其特征在于，包括： 搭建包括位置嵌入模塊、主干網絡和重構模塊的表面缺陷檢測模型； 所述位置嵌入模塊，用于對原始圖像分成的每個patch進行編碼，得到各patch的patch序列；對任一個patch，利用該patch在原始圖像中的位置關系建立全局位置嵌入向量；選取包含該patch的L×L個patch構成一個窗口，利用該patch在窗口中的位置關系建立局部位置嵌入向量；將該patch的patch序列、全局位置嵌入向量和局部位置嵌入向量進行融合，得到該patch的patch嵌入序列；再將所有patch的patch嵌入序列進行堆疊； 所述主干網絡包括多個串聯堆疊的標準Transformer編碼器，每個編碼器包括一個多頭特征注意力層和一個多層感知機； 所述多頭特征注意力層，用于根據堆疊的patch嵌入序列得到查詢向量q、鍵向量k和值向量v，再將查詢向量q、鍵向量k和值向量v切分成h份；對每一份查詢向量qi、鍵向量ki求相似性，作為對應值向量vi的權重，其中i∈{1,...,h}，將所有包含權重的值向量vi組合得到包含全局信息的特征Z；將所述特征Z降維到所述堆疊的patch嵌入序列的維度； 所述多層感知機，用于對降維后的特征進行解碼，得到新的patch嵌入序列，作為下一個編碼器的輸入； 所述重構模塊，用于根據主干網絡輸出的patch嵌入序列重構各個patch； 任取一個patch，以最小化該patch的重構patch與原始patch的像素值差異和結構相似性為目標，訓練所述表面缺陷檢測模型。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人華中科技大學，其通訊地址為：430074 湖北省武漢市洪山區珞喻路1037號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。