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龍圖騰網(wǎng)獲悉重慶大學(xué)申請(qǐng)的專(zhuān)利一種平板探測(cè)器信號(hào)串?dāng)_校正裝置及方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專(zhuān)利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專(zhuān)利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN115778415B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-19發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專(zhuān)利申請(qǐng)?zhí)?專(zhuān)利號(hào)為：202211313353.8，技術(shù)領(lǐng)域涉及：A61B6/03；該發(fā)明授權(quán)一種平板探測(cè)器信號(hào)串?dāng)_校正裝置及方法是由安康;段曉礁;周日峰;盧艷平設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-10-25向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專(zhuān)利申請(qǐng)。

本一種平板探測(cè)器信號(hào)串?dāng)_校正裝置及方法在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N平板探測(cè)器信號(hào)串?dāng)_校正裝置及方法，所述裝置包括X射線源、平板探測(cè)器，以及設(shè)置在平板探測(cè)器與X射線源之間、緊貼平板探測(cè)器放置的校正單元，所述校正單元包括環(huán)形刻度盤(pán)、旋轉(zhuǎn)組件、長(zhǎng)方形金屬薄片。所述方法步驟為：固定裝置；確定方陣階數(shù)，并計(jì)算成像次數(shù)及旋轉(zhuǎn)角度；按照預(yù)定角度依次旋轉(zhuǎn)校正裝置，采集投影圖像，并計(jì)算投影圖像的線擴(kuò)散向量；利用線擴(kuò)散向量迭代計(jì)算反卷積校正方陣；利用反卷積校正方陣去除投影圖像串?dāng)_。本申請(qǐng)應(yīng)用校正裝置和校正方法，通過(guò)簡(jiǎn)單的步驟獲得準(zhǔn)確的平板探測(cè)器PSF以校正平板探測(cè)器信號(hào)串?dāng)_，提升投影圖像分辨率。

本發(fā)明授權(quán)一種平板探測(cè)器信號(hào)串?dāng)_校正裝置及方法在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.一種平板探測(cè)器信號(hào)串?dāng)_校正方法，其特征在于，采用平板探測(cè)器信號(hào)串?dāng)_校正裝置進(jìn)行串?dāng)_校正，平板探測(cè)器信號(hào)串?dāng)_校正裝置包括：X射線源、平板探測(cè)器，還包括設(shè)置在所述平板探測(cè)器與X射線源之間、緊貼平板探測(cè)器放置的校正單元； 所述校正單元包括環(huán)形刻度盤(pán)1、旋轉(zhuǎn)組件2、長(zhǎng)方形金屬薄片3，所述旋轉(zhuǎn)組件2的旋轉(zhuǎn)中心軸與環(huán)形刻度盤(pán)1中心軸線重合，所述長(zhǎng)方形金屬薄片3固定安裝在所述旋轉(zhuǎn)組件2上； 所述環(huán)形刻度盤(pán)1上刻有角度標(biāo)識(shí)4，所述旋轉(zhuǎn)組件2可沿環(huán)形刻度盤(pán)1中心軸線進(jìn)行360°旋轉(zhuǎn)，所述旋轉(zhuǎn)組件2上設(shè)置有位置指針201，所述長(zhǎng)方形金屬薄片3的測(cè)量邊301與所述位置指針201中心重合，且所述測(cè)量邊301的旋轉(zhuǎn)中心位于所述環(huán)形刻度盤(pán)1的中心軸線上。 串?dāng)_校正方法具體步驟為： 1裝置初始化：將所述校正單元固定在平板探測(cè)器中心位置，使圓環(huán)形刻度盤(pán)1上0°位置對(duì)準(zhǔn)垂直方向或水平方向，并使位置指針201指向0°位置； 2參數(shù)初始化：預(yù)設(shè)用于信號(hào)串?dāng)_去除的反卷積校正方陣的階數(shù)N，計(jì)算需要的測(cè)量的次數(shù)M以及旋轉(zhuǎn)組件2相應(yīng)的單次旋轉(zhuǎn)角度a； 3投影圖像采集：將旋轉(zhuǎn)組件2旋轉(zhuǎn)角度a2，進(jìn)行X射線成像測(cè)試，獲得校正裝置的第一投影圖像，再依次將旋轉(zhuǎn)組件2旋轉(zhuǎn)角度a，每一旋轉(zhuǎn)后均進(jìn)行X射線成像測(cè)試，獲得第二至第M投影圖像； 4計(jì)算線擴(kuò)散向量：計(jì)算第一至第M投影圖像線擴(kuò)散向量Ymi，其中：i＝1,2...K,m＝1,2...M； 5計(jì)算校正方陣：采用線擴(kuò)散向量Ymi，通過(guò)迭代計(jì)算獲得反卷積校正方陣； 6串?dāng)_校正：采用反卷積校正方陣對(duì)投影圖像進(jìn)行反卷積，完成平板探測(cè)器投影圖像的信號(hào)串?dāng)_校正。

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