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龍圖騰網獲悉暨南大學申請的專利超構表面設計方法、裝置、設備及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119962183B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510029345.8，技術領域涉及：G06F30/20；該發明授權超構表面設計方法、裝置、設備及存儲介質是由鄧子嵐;萬舟;吳永輝;李楓竣;史坦;李向平設計研發完成，并于2025-01-08向國家知識產權局提交的專利申請。

本超構表面設計方法、裝置、設備及存儲介質在說明書摘要公布了：本申請提供一種超構表面設計方法、裝置、設備及存儲介質。涉及衍射光學元件設計技術領域。該方法包括：在GS算法的基礎上引入光柵結構得到基于光柵衍射級次的GS算法模型，利用基于光柵衍射級次的GS算法模型來獲取的目標面的采樣點位置；構建復雜光場下多角度結構數據庫；基于目標面的采樣點位置以及復雜光場下多角度結構數據庫，進行超構表面特性的逆向設計，得到超構表面結構。本申請通過引入基于超構表面特性的改進GS算法和復雜光場下多角度結構數據庫，確保超構表面在復雜光場多角度入射下仍能準確調制相位，從而實現低均一性誤差和高衍射效率的結構光。

本發明授權超構表面設計方法、裝置、設備及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種超構表面設計方法，其特征在于，所述方法包括： 在GS算法的基礎上引入光柵結構得到基于光柵衍射級次的GS算法模型，利用基于光柵衍射級次的GS算法模型來獲取的目標面的采樣點位置； 構建復雜光場下多角度結構數據庫； 基于所述目標面的采樣點位置以及復雜光場下多角度結構數據庫，進行超構表面特性的逆向設計，得到超構表面結構； 所述目標面的采樣點位置包括DOE面的采樣點坐標和像平面的采樣點坐標，利用基于光柵衍射級次的GS算法模型來獲取的目標面的采樣點位置，包括： 將DOE面的采樣點坐標用m 0,n 0表示，DOE面總的采樣點數為M*N；其中，m 0和n 0分別為單個光柵周期內離散相位的第m 0行第n 0列，M和N分別為單個光柵周期內對橫坐標內的相位離散為M個值與對縱坐標內的相位離散為N個值； 將像平面的采樣點坐標用m,n表示，像平面總的采樣點數為M*N；其中m和n分別為平面光正入射時二維光柵兩個方向的衍射級次； 構建復雜光場下多角度結構數據庫，包括： 基于如下函數關系式來描述基于結構參數與調制相位的關系： ； 式中，R為基元結構參數；i為第i個衍射級次；表示第i個衍射級次下，基元結構參數對應的調制相位； 根據所述函數關系式，獲得不同入射角度下的納米柱與相位之間的映射關系；并基于不同入射角度下的納米柱與相位之間的映射關系來構建復雜光場下多角度結構數據庫。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人暨南大學，其通訊地址為：510632 廣東省廣州市天河區黃埔大道西601號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。