西安電子科技大學何學輝獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉西安電子科技大學申請的專利一種適用于低慢小目標探測的低虛警率檢測方法及裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119780870B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510156226.9，技術領域涉及：G01S7/41；該發明授權一種適用于低慢小目標探測的低虛警率檢測方法及裝置是由何學輝;張紫新;楊永安;李維杰;劉曉月設計研發完成，并于2025-02-12向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種適用于低慢小目標探測的低虛警率檢測方法及裝置在說明書摘要公布了：本發明公開了一種適用于低慢小目標探測的低虛警率檢測方法及裝置，包括：采集含有低慢小目標的點跡數據，從點跡數據中選出無人機目標的點跡集合；使用最小二乘法對點跡集合中每個點跡的實際幅度和實際距離的關系進行擬合得到擬合曲線；擬合過程中將點跡集合中每個點跡的實際幅度作為因變量，將點跡集合中每個點跡的實際距離作為自變量；根據擬合曲線和實際曲線計算點跡集合中每個點跡的殘差；所有殘差的分布滿足正態分布；根據所有殘差的正態分布特性計算檢測門限曲線的系數；根據擬合曲線和檢測門限曲線的系數設計檢測門限曲線；使用檢測門限曲線進行恒虛警檢測。本發明可以更加準確地區分低慢小目標中目標點和雜點，降低了雷達的虛警概率。
本發明授權一種適用于低慢小目標探測的低虛警率檢測方法及裝置在權利要求書中公布了：1.一種適用于低慢小目標探測的低虛警率檢測方法，其特征在于，所述方法包括： 采集含有低慢小目標的點跡數據，并從所有點跡數據中選出無人機目標的點跡集合；所述點跡集合中每個點跡包括實際幅度和實際距離； 使用最小二乘法，對所述實際幅度和所述實際距離的關系進行擬合，得到擬合曲線；其中，擬合過程中將所述點跡集合中每個點跡的實際幅度作為因變量，將所述點跡集合中每個點跡的實際距離作為自變量，以構建擬合曲線； 根據所述擬合曲線和所述點跡集合對應的實際曲線計算所述點跡集合中每個點跡的殘差；其中，所有殘差的分布滿足正態分布； 根據所有殘差的正態分布特性計算檢測門限曲線的系數； 根據所述擬合曲線和所述檢測門限曲線的系數設計檢測門限曲線； 使用所述檢測門限曲線進行恒虛警檢測。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人西安電子科技大學，其通訊地址為：710071 陜西省西安市雁塔區太白南路2號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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