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龍圖騰網(wǎng)獲悉晉城市光機(jī)電產(chǎn)業(yè)協(xié)調(diào)服務(wù)中心(晉城市光機(jī)電產(chǎn)業(yè)研究院)申請的專利一種半導(dǎo)體激光器壽命預(yù)估方法及系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN120293480B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-16發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202510779701.8，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01M11/00；該發(fā)明授權(quán)一種半導(dǎo)體激光器壽命預(yù)估方法及系統(tǒng)是由成磊;鮑亞楠;韋炳興;李亞東;齊東東;郭麒;李利設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2025-06-12向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種半導(dǎo)體激光器壽命預(yù)估方法及系統(tǒng)在說明書摘要公布了：本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體激光器壽命預(yù)估方法，包括以下步驟，對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行光電特性測量，得到光電特性參數(shù)集；基于所述光電特性參數(shù)集對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行應(yīng)力分析，得到器件應(yīng)力特征譜；基于所述器件應(yīng)力特征譜對半導(dǎo)體激光器進(jìn)行缺陷演化分析，得到缺陷擴(kuò)展特征圖；基于所述缺陷擴(kuò)展特征圖對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行性能衰減模擬，得到性能衰減軌跡曲線；基于所述性能衰減軌跡曲線對半導(dǎo)體激光器進(jìn)行壽命評估，得到壽命預(yù)估結(jié)果解決了傳統(tǒng)的壽命評估方法主要依賴于加速老化實(shí)驗(yàn)和統(tǒng)計(jì)模型，雖然能夠在一定程度上反映器件的老化趨勢，但往往周期長、成本高，且難以揭示器件內(nèi)部失效機(jī)制的本質(zhì)過程的技術(shù)問題。

本發(fā)明授權(quán)一種半導(dǎo)體激光器壽命預(yù)估方法及系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種半導(dǎo)體激光器壽命預(yù)估方法，其特征在于，包括以下步驟： 對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行光電特性測量，得到光電特性參數(shù)集； 基于所述光電特性參數(shù)集對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行應(yīng)力分析，得到器件應(yīng)力特征譜，具體包括： 基于所述光電特性參數(shù)集對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行溫度場模擬，得到溫度分布數(shù)據(jù)，并通過有限元分析方法，基于所述溫度分布數(shù)據(jù)對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行熱應(yīng)力計(jì)算，得到熱應(yīng)力分布數(shù)據(jù)； 基于所述熱應(yīng)力分布數(shù)據(jù)對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行位錯(cuò)密度分析，得到位錯(cuò)密度分布數(shù)據(jù)，并基于所述位錯(cuò)密度分布數(shù)據(jù)，對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行應(yīng)變能密度分析，得到應(yīng)變能密度分布數(shù)據(jù)； 基于所述應(yīng)變能密度分布數(shù)據(jù)對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行界面應(yīng)力分析，得到界面應(yīng)力強(qiáng)度數(shù)據(jù)，并基于所述界面應(yīng)力強(qiáng)度數(shù)據(jù)和所述熱應(yīng)力分布數(shù)據(jù)對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行器件應(yīng)力特征譜構(gòu)建，得到器件應(yīng)力特征譜； 當(dāng)所述器件應(yīng)力特征譜中界面應(yīng)力強(qiáng)度超過預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則基于所述器件應(yīng)力特征譜對半導(dǎo)體激光器進(jìn)行缺陷演化分析，得到缺陷擴(kuò)展特征圖； 基于所述缺陷擴(kuò)展特征圖對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行性能衰減模擬，得到性能衰減軌跡曲線，具體包括： 基于所述缺陷擴(kuò)展特征圖對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行光場分布模擬，得到光場分布數(shù)據(jù)，并基于所述光場分布數(shù)據(jù)對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行輸出功率模擬，得到輸出功率數(shù)據(jù)； 基于所述輸出功率數(shù)據(jù)對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行輸出功率衰減率計(jì)算，得到輸出功率衰減率數(shù)據(jù)，基于所述缺陷擴(kuò)展特征圖中的界面態(tài)能級對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行載流子濃度模擬，得到載流子濃度數(shù)據(jù)； 基于所述載流子濃度數(shù)據(jù)對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行光譜模擬，得到光譜數(shù)據(jù)，并基于所述光譜數(shù)據(jù)對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行波長漂移量計(jì)算，得到波長漂移量數(shù)據(jù)； 基于所述光場分布數(shù)據(jù)對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行模式穩(wěn)定性分析，得到模式穩(wěn)定性指數(shù)數(shù)據(jù)，并基于所述輸出功率衰減率數(shù)據(jù)、所述波長漂移量數(shù)據(jù)和所述模式穩(wěn)定性指數(shù)數(shù)據(jù)對所述半導(dǎo)體激光器進(jìn)行性能衰減軌跡曲線構(gòu)建，得到性能衰減軌跡曲線； 基于所述性能衰減軌跡曲線對半導(dǎo)體激光器進(jìn)行壽命評估，得到壽命預(yù)估結(jié)果。

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