武漢大學賈國棟獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰,真高效! 查專利查商標用IPTOP,全免費!專利年費監控用IP管家,真方便!
龍圖騰網獲悉武漢大學申請的專利基于垂測頻高圖加快數值型射線追蹤速度的方法及系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120429529B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-16發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510858015.X,技術領域涉及:G06F17/11;該發明授權基于垂測頻高圖加快數值型射線追蹤速度的方法及系統是由賈國棟;姜春華;劉桐辛;楊國斌;王子鳴;劉旭暉;勞崇哲設計研發完成,并于2025-06-25向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于垂測頻高圖加快數值型射線追蹤速度的方法及系統在說明書摘要公布了:本發明公開一種基于垂測頻高圖加快數值型射線追蹤速度的方法,首先構建發射站與接收站之間的電離層電子密度網格,并計算兩站之間的大圓距離;隨后,利用中間點的電子密度剖面生成垂測電離圖,并將其轉換為斜測電離圖;基于發射站的工作頻率,在斜測圖根據工作頻率確定該頻率對應的群路徑,再利用群路徑和大圓距離計算初始仰角;最后,通過數值型射線追蹤掃描掃描該工作頻率的仰角范圍即初始仰角附近的范圍,獲得射線追蹤結果。本發明方法在不降低計算精度的前提下,顯著提升了數值型射線追蹤的計算效率。
本發明授權基于垂測頻高圖加快數值型射線追蹤速度的方法及系統在權利要求書中公布了:1.基于垂測頻高圖加快數值型射線追蹤速度的方法,其特征在于,包括: 步驟1:獲取信號發射站和接收站的經緯度坐標,計算兩站之間大圓距離; 步驟2:構建信號發射站與接收站之間的電離層網格,計算網格中間點處的電子密度剖面,并基于所述電子密度剖面生成垂測電離圖; 步驟3:將步驟2中垂測電離圖轉換為斜測電離圖描跡; 步驟4:由步驟1中發射站的電波發射頻率,在步驟3得到的斜測電離圖中選擇與所述電波發射頻率對應的射線群路徑,在出現射線多徑傳播時,將發射站頻率為中心、預設頻率范圍內的所有群路徑按照聚類思想進行分類,并以分類后每組群路徑的平均值作為發射站頻率對應的群路徑; 步驟5:將步驟1中兩站之間大圓距離和步驟4中射線群路徑,代入三角關系中,解算出初始射線仰角; 步驟6:以步驟5中初始射線仰角為中心,在預設角度范圍內搜索數值型射線追蹤的仰角。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人武漢大學,其通訊地址為:430072 湖北省武漢市武昌區八一路299號;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息,力求客觀、公正,但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解,僅供參考使用,不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。