無(wú)錫迪思微電子有限公司耿明春獲國(guó)家專(zhuān)利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉無(wú)錫迪思微電子有限公司申請(qǐng)的專(zhuān)利掩模版的圖形精度的確定方法以及確定裝置獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專(zhuān)利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專(zhuān)利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號(hào)為:CN115808849B 。
龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專(zhuān)利申請(qǐng)?zhí)?專(zhuān)利號(hào)為:202111071159.9,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G03F7/20;該發(fā)明授權(quán)掩模版的圖形精度的確定方法以及確定裝置是由耿明春設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2021-09-13向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專(zhuān)利申請(qǐng)。
本掩模版的圖形精度的確定方法以及確定裝置在說(shuō)明書(shū)摘要公布了:本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N掩模版的圖形精度的確定方法以及確定裝置,掩模版中,第一坐標(biāo)標(biāo)識(shí)包括相互垂直的第一標(biāo)識(shí)塊以及第二標(biāo)識(shí)塊,第二坐標(biāo)標(biāo)識(shí)包括第三標(biāo)識(shí)塊以及第四標(biāo)識(shí)塊,第三標(biāo)識(shí)塊與第一標(biāo)識(shí)塊平行,第四標(biāo)識(shí)塊與第二標(biāo)識(shí)塊平行,該方法包括:獲取目標(biāo)標(biāo)識(shí)間距,目標(biāo)標(biāo)識(shí)間距為待測(cè)掩模版的標(biāo)識(shí)間距,標(biāo)識(shí)間距包括第一間距以及第二間距,第一間距為第三標(biāo)識(shí)塊與第一標(biāo)識(shí)塊的之間的最小距離,第二間距為第四標(biāo)識(shí)塊與第二標(biāo)識(shí)塊之間的最小距離;根據(jù)目標(biāo)標(biāo)識(shí)間距,確定目標(biāo)圖形偏移量,目標(biāo)圖形偏移量為待測(cè)掩模版的圖形偏移量,圖形偏移量為有效區(qū)域的實(shí)際位置與設(shè)計(jì)位置之間的差值。解決了現(xiàn)有技術(shù)中掩模版圖形精度的量測(cè)成本較高的問(wèn)題。
本發(fā)明授權(quán)掩模版的圖形精度的確定方法以及確定裝置在權(quán)利要求書(shū)中公布了:1.一種掩模版的圖形精度的確定方法,其特征在于,所述掩模版由有效區(qū)域以及坐標(biāo)標(biāo)識(shí)區(qū)域構(gòu)成,所述坐標(biāo)標(biāo)識(shí)區(qū)域包括第一坐標(biāo)標(biāo)識(shí)以及第二坐標(biāo)標(biāo)識(shí),所述第一坐標(biāo)標(biāo)識(shí)包括相互垂直的第一標(biāo)識(shí)塊以及第二標(biāo)識(shí)塊,所述第二坐標(biāo)標(biāo)識(shí)包括第三標(biāo)識(shí)塊以及第四標(biāo)識(shí)塊,所述第三標(biāo)識(shí)塊與所述第一標(biāo)識(shí)塊平行,所述第四標(biāo)識(shí)塊與所述第二標(biāo)識(shí)塊平行,所述方法包括: 獲取目標(biāo)標(biāo)識(shí)間距,所述目標(biāo)標(biāo)識(shí)間距為待測(cè)掩模版的標(biāo)識(shí)間距,所述標(biāo)識(shí)間距包括第一間距以及第二間距,所述第一間距為所述第三標(biāo)識(shí)塊與所述第一標(biāo)識(shí)塊的之間的最小距離,所述第二間距為所述第四標(biāo)識(shí)塊與所述第二標(biāo)識(shí)塊之間的最小距離; 根據(jù)所述目標(biāo)標(biāo)識(shí)間距,確定目標(biāo)圖形偏移量,所述目標(biāo)圖形偏移量為所述待測(cè)掩模版的圖形偏移量,所述圖形偏移量為所述有效區(qū)域的實(shí)際位置與設(shè)計(jì)位置之間的差值,所述方法不應(yīng)用于IPRO設(shè)備, 根據(jù)所述目標(biāo)標(biāo)識(shí)間距,確定目標(biāo)圖形偏移量,包括:獲取所述圖形偏移量與所述標(biāo)識(shí)間距的函數(shù)關(guān)系;根據(jù)所述函數(shù)關(guān)系以及所述目標(biāo)標(biāo)識(shí)間距,確定所述目標(biāo)圖形偏移量, 或者,根據(jù)所述目標(biāo)標(biāo)識(shí)間距,確定目標(biāo)圖形偏移量,包括:獲取神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型;使用所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型對(duì)所述目標(biāo)標(biāo)識(shí)間距進(jìn)行分析,確定所述目標(biāo)圖形偏移量。
如需購(gòu)買(mǎi)、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類(lèi)似專(zhuān)利技術(shù),可聯(lián)系本專(zhuān)利的申請(qǐng)人或?qū)@麢?quán)人無(wú)錫迪思微電子有限公司,其通訊地址為:214135 江蘇省無(wú)錫市太湖國(guó)際科技園菱湖大道180號(hào)-6;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話(huà)0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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