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龍圖騰網(wǎng)獲悉中國科學技術(shù)大學申請的專利基于受激參量下轉(zhuǎn)換的測量裝置及量子增強相位測量方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN114166359B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202210015333.6，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01J9/00；該發(fā)明授權(quán)基于受激參量下轉(zhuǎn)換的測量裝置及量子增強相位測量方法是由陸朝陽;覃儉;鄧宇皓;鐘翰森;何玉明;潘建偉設(shè)計研發(fā)完成，并于2022-01-07向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本基于受激參量下轉(zhuǎn)換的測量裝置及量子增強相位測量方法在說明書摘要公布了：本公開提供了一種基于受激參量下轉(zhuǎn)換的測量裝置及量子增強相位測量方法。該裝置包括：激光光源，用于提供初始泵浦光；非線性晶體，用于對來自激光光源的初始泵浦光進行第一次受激參量下轉(zhuǎn)換和第二次受激參量下轉(zhuǎn)換；凹面反射鏡，用于將來自非線性晶體的第一參量光和第一泵浦光反射到平面鏡，并將來自平面鏡的第一參量光和第一泵浦光反射回非線性晶體；平面鏡，用于將來自凹面反射鏡的第一參量光和第一泵浦光反射回凹面反射鏡；楔形相位調(diào)節(jié)器，用于調(diào)節(jié)來自凹面反射鏡的第一泵浦光與第一參量光之間的相位；以及單光子探測器，用于對來自非線性晶體的第二參量光進行單光子閾值探測。

本發(fā)明授權(quán)基于受激參量下轉(zhuǎn)換的測量裝置及量子增強相位測量方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種基于受激參量下轉(zhuǎn)換的測量裝置，包括： 激光光源，用于提供初始泵浦光； 非線性晶體，用于對來自所述激光光源的初始泵浦光進行第一次受激參量下轉(zhuǎn)換，得到第一參量光和第一泵浦光，以及對來自凹面反射鏡的第一參量光和第一泵浦光進行第二次受激參量下轉(zhuǎn)換，得到第二參量光和第二泵浦光；非線性晶體朝向激光光源的一端面設(shè)置有針對初始泵浦光、第二參量光和第二泵浦光波段的增透膜，非線性晶體朝向凹面反射鏡的一端面設(shè)置有針對第一參量光和第一泵浦光波段的增透膜； 凹面反射鏡，用于將來自所述非線性晶體的第一參量光和第一泵浦光反射到平面鏡，并將來自平面鏡的第一參量光和第一泵浦光反射回所述非線性晶體； 平面鏡，用于將來自凹面反射鏡的第一參量光和第一泵浦光反射回所述凹面反射鏡； 楔形相位調(diào)節(jié)器，用于調(diào)節(jié)來自所述凹面反射鏡的第一泵浦光與第一參量光之間的相位；以及 單光子探測器，用于對來自所述非線性晶體的第二參量光進行單光子閾值探測； 其中，所述凹面反射鏡和所述平面鏡構(gòu)成光學4f系統(tǒng)，所述凹面反射鏡和所述平面鏡之間的距離為所述凹面反射鏡的一倍焦距； 所述凹面反射鏡和所述非線性晶體之間的距離為所述凹面反射鏡的一倍焦距。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人中國科學技術(shù)大學，其通訊地址為：230026 安徽省合肥市包河區(qū)金寨路96號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。