買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網獲悉中國科學院合肥物質科學研究院申請的專利一種單像素探測邊緣檢測方法及設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115035140B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210429222.X，技術領域涉及：G06T7/13；該發明授權一種單像素探測邊緣檢測方法及設備是由王英儉;時東鋒;陳亞峰;黃見;苑克娥;楊威;令狐彬;喬春紅設計研發完成，并于2022-04-22向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種單像素探測邊緣檢測方法及設備在說明書摘要公布了：本發明屬于計算成像和邊緣檢測領域，特別涉及一種單像素探測邊緣檢測方法及設備。所述邊緣檢測方法包括以下步驟：步驟S1：生成二維調制信息矩陣A，并將二維調制信息矩陣A平移一個單位得到二維調制信息矩陣B；步驟S2：分別使用二維調制信息矩陣A和二維調制信息矩陣B對照明光進行調制；步驟S3：分別探測兩組調制后的照明光穿透目標物體或經目標物體反射后的光信號總強度值，得到兩組光信號總強度值；步驟S4：根據兩組所述光信號總強度值使用重建算法計算目標物體的邊緣信息。本發明相比于傳統利用圖像來檢測物體邊緣，這種方法不需要重建物體的圖像而直接得到物體的變換。

本發明授權一種單像素探測邊緣檢測方法及設備在權利要求書中公布了：1.一種單像素探測邊緣檢測方法，其特征在于， 所述邊緣檢測方法包括以下步驟： 步驟S1：生成二維調制信息矩陣A，并將二維調制信息矩陣A平移一個單位得到二維調制信息矩陣B； 步驟S2：分別使用二維調制信息矩陣A和二維調制信息矩陣B對照明光進行調制； 步驟S3：分別探測兩組調制后的照明光穿透目標物體或經目標物體反射后的光信號總強度值，得到兩組光信號總強度值； 步驟S4：根據兩組所述光信號總強度值使用重建算法計算目標物體的邊緣信息； 所述二維調制信息矩陣A中每個矩陣的表達式如下： p0x,y,L,θ＝hRLδxcosθ+ysinθ-L 所述二維調制信息矩陣B中每個矩陣的表達式如下： ptx,y；L,θ＝p0x,y；L+1,θ 其中，p0x,y；L,θ為二維矩陣中對應著坐標x，y處的元素值，hRL等于哈達瑪矩陣中第R行[L]列的值，[L]為不大于L的最大整數值，δ為狄拉克函數，θ為與x軸的夾角； 所述步驟S4具體包括以下步驟： 步驟S41：根據兩組光信號總強度值計算梯度信息； 步驟S42：根據所述梯度信息計算出橫坐標正方向的夾角從0到179度中所有梯度的拉東譜線，并按角度順序排列后得到梯度的拉東譜； 步驟S43：根據所述拉東譜采用濾波反投影算法計算目標物體的邊緣信息。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院合肥物質科學研究院，其通訊地址為：230031 安徽省合肥市蜀山區蜀山湖路350號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。