上海物騏微電子有限公司韋韌獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉上海物騏微電子有限公司申請的專利一種距離測量方法及系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114966708B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210494263.7,技術領域涉及:G01S15/06;該發明授權一種距離測量方法及系統是由韋韌;曾安輝設計研發完成,并于2022-05-07向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種距離測量方法及系統在說明書摘要公布了:本發明公開一種距離測量方法及系統,所述方法包括:生成單音信號及所述單音信號的正交信號;向反射面發射所述單音信號,并接收所述單音信號的反射信號;根據所述單音信號、所述正交信號、所述反射信號和預設滑動積分時間計算所述反射信號的傳播時延相位;以及根據所述反射信號的傳播時延相位和所述單音信號的生成時間計算所述反射信號的傳播時延,以得到所述反射面與信號發射處的距離。本發明通過將預設滑動積分時間設置為單音信號半周期的整數倍,使得計算得到的傳播時延相位與反射信號的幅度無關,從而提高距離測量精度;本發明還可以有效規避所述模塊處理時延和環境溫度對距離測量結果的影響,進一步提高距離測量精度。
本發明授權一種距離測量方法及系統在權利要求書中公布了:1.一種距離測量方法,其特征在于,包括: 生成單音信號及所述單音信號的正交信號,并記錄所述單音信號的生成時間; 向反射面發射所述單音信號,并接收所述單音信號的反射信號; 根據所述單音信號、所述正交信號、所述反射信號和預設滑動積分時間計算所述反射信號的傳播時延相位;以及 根據所述反射信號的傳播時延相位和所述單音信號的生成時間計算所述反射信號的傳播時延,以得到所述反射面與信號發射處的距離; 所述根據所述單音信號、所述正交信號、所述反射信號和預設滑動積分時間計算所述反射信號的傳播時延相位的步驟包括: 根據所述預設滑動積分時間對所述單音信號和所述反射信號進行滑動相關積分,以獲取第一滑動相關結果; 根據所述預設滑動積分時間對所述正交信號和所述反射信號進行滑動相關積分,以獲取第二滑動相關結果;以及 根據所述第一滑動相關結果和所述第二滑動相關結果計算所述反射信號的傳播時延相位; 所述根據所述反射信號的傳播時延相位和所述單音信號的生成時間計算所述反射信號的傳播時延的步驟包括: 選取所述反射信號的傳播時延相位首次大于第一預設閾值時對應的時間為第一相關峰穩定時間; 根據所述第一相關峰穩定時間和所述單音信號的生成時間計算所述反射信號的傳播時延的整周期數; 根據所述反射信號的傳播時延的整周期數和所述單音信號的周期計算所述反射信號的傳播時延;以及 根據所述反射信號的傳播時延計算所述反射面與信號發射處的距離; 所述反射信號的傳播時延的整周期數采用如下公式進行計算: 其中,N1為所述反射信號的傳播時延的整周期數;floor為向下取整;T0為所述單音信號的生成時間;T1為所述第一相關峰穩定時間;Ttone為所述單音信號的周期;T為所述預設滑動積分時間; 所述反射信號的傳播時延采用如下公式進行計算: Ta=N1·Ttone+Tcorr 其中,Ta為所述反射信號的傳播時延;且Tcorr采用如下公式進行計算: 其中,CORIT為所述第一滑動相關結果,CORQT為所述第二滑動相關結果;θ1為所述反射信號的傳播時延相位; 所述反射面與信號發射處的距離采用如下公式進行計算: S0=Ta·V2 其中,S0為所述反射面與信號發射處的距離;V為距離測量環境溫度對應的信號傳播速度。
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