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龍圖騰網獲悉浙江欣旺達電子有限公司申請的專利虛焊缺陷檢測方法及檢測系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115326919B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211024622.9，技術領域涉及：G01N27/90；該發明授權虛焊缺陷檢測方法及檢測系統是由夏科;樊增虎;謝成濤;李武岐設計研發完成，并于2022-08-25向國家知識產權局提交的專利申請。

本虛焊缺陷檢測方法及檢測系統在說明書摘要公布了：本申請實施例公開了提供一種虛焊缺陷檢測方法及檢測系統，所述虛焊缺陷檢測方法基于渦流鎖相熱成像技術對待測試件的焊接層內的虛焊缺陷區域進行檢測，以不同頻率的交流信號，調制鎖相渦流加熱待測試件，有效抑制材料復雜，材質表面發射率不一致的影響，熱成像儀成像更清晰，檢測深度更大，適用性更廣。

本發明授權虛焊缺陷檢測方法及檢測系統在權利要求書中公布了：1.一種虛焊缺陷檢測方法，用以檢測待測試件內的焊接層，其特征在于，所述虛焊缺陷檢測方法包括如下步驟： S1提供高頻交變電流，通過低頻鎖相信號對所述高頻交變電流進行幅度調制，產生周期變化的電流信號； S2將感應線圈布置于所述待測試件的第一表面背離第二表面的一側，將所述周期變化的電流信號進行功率放大后供應至所述感應線圈，使得所述感應線圈產生周期變化的感應磁場； S3根據所述感應線圈產生的周期變化的感應磁場，所述待測試件產生頻率變化的鎖相渦流以加熱所述待測試件； 部分所述鎖相渦流在所述待測試件內部轉化為熱能以加熱所述待測試件，所述鎖相渦流在所述待測試件內部產生的熱量為Q1； S4收集供應時長內所述待測試件遠離所述感應線圈一面的溫度數據，所述供應時長為向所述感應線圈供應所述周期變化的電流信號的時長； 當所述待測試件的焊接層內存在虛焊缺陷區域時，所述待測試件遠離所述感應線圈一面與虛焊缺陷區域相對應的區域的溫度為T1，所述待測試件遠離所述感應線圈一面與正常焊接區域相對應的區域的溫度為T2，T1＜T2； 當T1與T2的差值達到最大值時，停止向所述感應線圈供應電流信號； 所述鎖相渦流在所述待測試件內部產生的熱量Q1由所述待測試件的靠近所述感應線圈一面向遠離所述感應線圈的方向傳遞，傳遞至所述待測試件遠離所述感應線圈一面的熱量為Q2； 所述待測試件包括層疊設置的第一層和第二層，所述第一層和所述第二層的相對面焊接形成所述焊接層，所述的供應時長為tr, Lr為所述待測試件的第一層與所述焊接層的厚度之和，α為所述待測試件的熱擴散系數； S5通過傅里葉變換處理所述溫度數據，形成幅值圖和相位圖； S6將所述幅值圖和所述相位圖與所述待測試件的正常焊接區域的幅值圖和相位圖進行比對。

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