中國科學院上海技術物理研究所張東閣獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學院上海技術物理研究所申請的專利一種離軸三反光學系統補償器及其設計方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115508992B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202211112889.3,技術領域涉及:G02B17/06;該發明授權一種離軸三反光學系統補償器及其設計方法是由張東閣;陳洪達;董峰;傅雨田設計研發完成,并于2022-09-14向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種離軸三反光學系統補償器及其設計方法在說明書摘要公布了:本發明公開了一種離軸三反光學系統補償器及其設計方法,其核心特征是在離軸三反自準直干涉光路的干涉儀焦點前插入一定厚度的光學平板作為補償器,用于補償窗口、濾光片等后光路元件的像差。在離軸三反設計光路的約束下,通過建立多個光路配置對帶有補償器的自準直干涉光路模型進行優化,從而得到最佳的光學平板厚度。光學平板補償器的材料根據干涉儀的工作波段進行選擇和光學鍍膜處理。本發明簡單明確,能夠大幅度減少離軸三反光學系統裝調測試的偏差,提高離軸三反自準直干涉測試的效率和準確性,特別適合中波紅外或長波紅外離軸三反光學系統等后光路帶有窗口片、濾光片片等平板元件離軸三反光學系統的裝調測試。
本發明授權一種離軸三反光學系統補償器及其設計方法在權利要求書中公布了:1.一種離軸三反光學系統補償器,其特征在于, 在離軸三反光學系統自準直干涉光路的干涉儀焦點前插入一定厚度的光學平板2作為補償器; 干涉儀發出的光線,經過干涉儀焦點1發散穿過補償器,依次通過三鏡3,次鏡4,主鏡5,入射自準直平面鏡6;然后光線從平面鏡6原路返回,依次經過主鏡5,次鏡4,三鏡3,再次穿過補償器,最終會聚到干涉儀焦點1,組成帶有補償器的離軸三反自準直干涉光路; 所述的光學平板2的厚度計算方法步驟如下: 1在光學設計軟件中,建立配置I,光路模型是離軸三反光學系統原系統,包括離軸三反光學系統和窗口、濾光片、分色片光學元件,各項參數保持不變,即配置I沒有設計變量,起到約束作用; 2建立配置II,光路模型是離軸三反光學系統和補償器,其中補償器的厚度、補償器到干涉儀焦點1的距離和補償器到三鏡3頂點的距離,三個參數作為配置II的設計變量; 3建立配置III,光路模型是離軸三反光學系統和補償器,其中補償器的厚度與配置II的對應參數相同,同時其中反射鏡的兩個間隔參數、補償器到干涉儀焦點1的距離、補償器到三鏡3頂點的距離,四個參數作為配置III的設計變量; 4建立配置IV,離軸三反光學系統原系統,包括窗口、濾光片、分色片等原件,其中反射鏡的兩個間隔參數與配置III的兩個對應參數相同,只有后截距作為配置IV的設計變量; 5以波像差最小化,對配置I、II、III和IV的各個設計變量同時進行優化,即可得到最佳的光學補償器厚度和反射位置參數。
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