國芯韻(上海)智能信息科技有限公司何云龍獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉國芯韻(上海)智能信息科技有限公司申請的專利PCIE接口性能測試系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN119201581B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202411730454.4,技術領域涉及:G06F11/26;該發明授權PCIE接口性能測試系統是由何云龍;張博設計研發完成,并于2024-11-29向國家知識產權局提交的專利申請。
本PCIE接口性能測試系統在說明書摘要公布了:本申請涉及一種PCIE接口性能測試系統。所述系統包括待測主板,包括PCIE接口,所述待測主板用于將各第一PCIE數據包通過所述PCIE接口寫入至PCIE設備,并記錄數據寫入開始時間戳;在各所述第一PCIE數據包均寫入成功后,記錄數據寫入結束時間戳;基于所述寫入開始時間戳、所述寫入結束時間戳以及各所述第一PCIE數據包的總大小生成所述PCIE接口的寫性能測試結果;PCIE設備,用于接收各所述第一PCIE數據包,并在每一所述第一PCIE數據包接收成功后,丟掉所述第一PCIE數據包。采用本方法能夠滿足PCIE接口的理論帶寬的測試需求。
本發明授權PCIE接口性能測試系統在權利要求書中公布了:1.一種PCIE接口性能測試系統,其特征在于,所述系統包括: 待測主板,包括PCIE接口,所述待測主板用于將各第一PCIE數據包通過所述PCIE接口寫入至PCIE設備,并記錄數據寫入開始時間戳;在各所述第一PCIE數據包均寫入成功后,記錄數據寫入結束時間戳;基于所述寫入開始時間戳、所述寫入結束時間戳以及各所述第一PCIE數據包的總大小生成所述PCIE接口的寫性能測試結果; PCIE設備,包括FPGA主控芯片,用于接收各所述第一PCIE數據包,并在每一所述第一PCIE數據包接收成功后,丟掉所述第一PCIE數據包;且所述PCIE設備僅實現PCIE的讀寫功能,對寫入的數據直接丟棄,不做任何處理;所述PCIE設備與內存和硬盤不同,且不需要額外的協議轉換; 所述待測主板還用于生成第一PCIE數據文件,并基于所述第一PCIE數據文件確定各第一PCIE數據包;其中,所述第一PCIE數據文件的大小小于所述待測主板的內存,且所述第一PCIE數據文件的大小是PCIE協議對應的數據包的大小的整數倍; 所述待測主板用于重復基于所述第一PCIE數據文件確定各第一PCIE數據包,并將各所述第一PCIE數據包寫入至所述PCIE設備; 各所述第一PCIE數據包的總大小大于數據大小閾值,且各所述第一PCIE數據包的總大小隨著所述PCIE接口對應的理論帶寬的增大而增大; 所述PCIE設備還用于在接收所述第一PCIE數據包后,基于PCIE協議自帶的校驗機制對所述第一PCIE數據包進行校驗,在所述第一PCIE數據包校驗成功的情況下,判定所述第一PCIE數據包接收成功; 其中,所述PCIE設備基于所述待測主板的PCIE接口的版本和寬度確定尺寸,且通過PCIE金手指提供的75watt功率供電。
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