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龍圖騰網獲悉浙江大學申請的專利一種微波頻率與到達角同步測量的硅基集成器件及測量方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120320853B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510801799.2，技術領域涉及：H04B10/54；該發明授權一種微波頻率與到達角同步測量的硅基集成器件及測量方法是由謝意維;王澤旭;戴道鋅設計研發完成，并于2025-06-16向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種微波頻率與到達角同步測量的硅基集成器件及測量方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種微波頻率與到達角同步測量的硅基集成器件及測量方法。光源用于發出光載波到雙平行馬赫?曾德光電強度調制器的輸入端，間隔布置的兩個雷達天線接收待測微波信號并發送到雙平行馬赫?曾德光電強度調制器，雙平行馬赫?曾德光電強度調制器將待測微波信號加載到光載波上生成兩路光載微波信號并發送到，第一、第二瞬時頻率測量單元到達角測量單元，分別進行光載微波信號的頻率粗略、精細測量和到達角測量。本發明采用單一結構，實現了雷達微波信號頻率與到達角的同步高效測量，顯著提升檢測效率，解決了片上集成、高精度、輕量化、低功耗且功能強大的微波頻率和到達角同時測量的技術問題，增強了系統的實用性與適用范圍。

本發明授權一種微波頻率與到達角同步測量的硅基集成器件及測量方法在權利要求書中公布了：1.一種微波頻率與到達角同步測量的硅基集成器件，其特征在于： 包括間隔布置的兩個雷達天線，連接到雙平行馬赫-曾德光電強度調制器的電調制端，用于接收外部的待測微波信號并發送到雙平行馬赫-曾德光電強度調制器（100）； 包括雙平行馬赫-曾德光電強度調制器（100），用于接收來自外部光源（5）輸入的光載波并將雷達天線的待測微波信號加載到光載波上，進而生成兩路光載微波信號并發送到用于微波頻率與到達角同步測量的測量單元； 包括第一瞬時頻率測量單元（200）、到達角測量單元（300）和第二瞬時頻率測量單元（400），連接到雙平行馬赫-曾德光電強度調制器（100）的輸出端，分別用于進行光載微波信號的頻率粗略測量、到達角測量、頻率精細測量； 所述測量單元均包括熱調諧微環諧振器、不等臂馬赫曾德干涉儀、兩個探測模塊；不等臂馬赫曾德干涉儀輸入端經波導和雙平行馬赫-曾德光電強度調制器的一個輸出端連接，不等臂馬赫曾德干涉儀輸入端的波導的側旁設置有熱調諧微環諧振器，不等臂馬赫曾德干涉儀的兩個輸出端分別連接兩個探測模塊，不等臂馬赫曾德干涉儀內部的干涉臂上設置有延遲線、熱電極或微環。

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