深圳市仁清卓越科技有限公司張仁青獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉深圳市仁清卓越科技有限公司申請的專利屏幕保護膜的損傷檢測方法及系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120334483B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510824053.3,技術領域涉及:G01N33/00;該發明授權屏幕保護膜的損傷檢測方法及系統是由張仁青;吳海沖;王婭設計研發完成,并于2025-06-19向國家知識產權局提交的專利申請。
本屏幕保護膜的損傷檢測方法及系統在說明書摘要公布了:本發明涉及損傷檢測技術領域,公開了一種屏幕保護膜的損傷檢測方法及系統,該方法包括:對屏幕保護膜進行激光干涉厚度掃描,得到三維厚度分布數據和厚度梯度矢量場數據;基于三維厚度分布數據對圓偏振光束進行多層偏振干涉檢測,得到偏振相位差分布數據;根據厚度梯度矢量場數據對偏振相位差分布數據進行非周期性相位解包絡處理,得到連續偏振相位分布數據;基于連續偏振相位分布數據進行應力光學系數張量計算和動態橢圓偏振調制,得到應力損傷空間定位數據;對屏幕保護膜的邊緣切割區域和中心彎曲區域進行損傷成像重構,得到三維應力損傷成像結果,本發明實現了從幾何厚度變化到應力分布再到損傷定位的全鏈條檢測。
本發明授權屏幕保護膜的損傷檢測方法及系統在權利要求書中公布了:1.一種屏幕保護膜的損傷檢測方法,其特征在于,包括: 對屏幕保護膜進行激光干涉厚度掃描,得到三維厚度分布數據和厚度梯度矢量場數據; 基于所述三維厚度分布數據對圓偏振光束進行多層偏振干涉檢測,得到偏振相位差分布數據;具體包括:基于所述三維厚度分布數據創建多層偏振干涉光學系統的圓偏振光束配置參數;根據所述圓偏振光束配置參數對所述屏幕保護膜進行多層深度掃描,得到四象限偏振強度數據;對所述四象限偏振強度數據進行偏振相位差計算,得到初始相位差分布數據,并對所述初始相位差分布數據進行偏振穩定性約束,得到偏振相位差分布數據; 根據所述厚度梯度矢量場數據對所述偏振相位差分布數據進行非周期性相位解包絡處理,得到連續偏振相位分布數據;具體包括:基于所述厚度梯度矢量場數據和所述偏振相位差分布數據進行深度關聯,得到厚度補償因子;根據所述厚度補償因子對所述厚度梯度矢量場數據進行相位跳躍判別,得到真實相位跳躍識別數據;對所述真實相位跳躍識別數據進行窗口尺寸動態調整,得到自適應窗口參數;基于所述自適應窗口參數對所述偏振相位差分布數據執行非周期性解包絡算法,得到連續偏振相位分布數據; 基于所述連續偏振相位分布數據進行應力光學系數張量計算和動態橢圓偏振調制,得到應力損傷空間定位數據;具體包括:基于所述連續偏振相位分布數據進行修正Müller矩陣構建,得到玻璃-PVB-玻璃復合結構對應的Müller矩陣變換參數;根據所述Müller矩陣變換參數對所述連續偏振相位分布數據進行應力光學系數張量標定,得到應力光學系數張量;基于所述應力光學系數張量進行橢圓偏振參數調制,得到橢圓偏振調制參數;基于所述橢圓偏振調制參數對所述連續偏振相位分布數據進行三維應力張量重構,得到三維應力張量分量數據;基于所述三維應力張量分量數據進行動態橢圓偏振調制掃描,得到應力損傷空間定位數據; 根據所述應力損傷空間定位數據對屏幕保護膜的邊緣切割區域和中心彎曲區域進行損傷成像重構,得到三維應力損傷成像結果。
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