華翊博奧(北京)量子科技有限公司郭偉軒獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉華翊博奧(北京)量子科技有限公司申請的專利一種波長計及其測量方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN120445431B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202510927646.2,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01J9/02;該發(fā)明授權(quán)一種波長計及其測量方法是由郭偉軒;楊蒿翔;蔡明磊;周凡;曹明明設(shè)計研發(fā)完成,并于2025-07-07向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種波長計及其測量方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開了一種波長計及其測量方法,該波長計包括:分束器件,將待測激光分為兩路,分別輸入至Fizeau干涉儀和FP干涉儀;Fizeau干涉儀,用于輸出粗測波長范圍;FP干涉儀,用于在粗測波長范圍內(nèi)進行波長精測;第一光電探測器和第二光電探測器,分別檢測FP干涉儀的透射光強和反射光強;調(diào)諧裝置,用于調(diào)節(jié)FP干涉儀的腔長或待測激光的頻率,以消除波長測量中的多值模糊性;控制與計算單元,根據(jù)第一光電探測器和第二光電探測器的光強比值、調(diào)諧裝置的調(diào)節(jié)量及預(yù)先校準(zhǔn)的響應(yīng)曲線,確定待測激光的唯一波長值。該方法可以實現(xiàn)數(shù)百THz的測量范圍,精度達到10?9以上的波長測量,并且相較Fizeau干涉儀對環(huán)境溫度和振動不敏感。
本發(fā)明授權(quán)一種波長計及其測量方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種波長計的測量方法,其特征在于,包括以下步驟: S1.將待測激光分為兩路,分別輸入至Fizeau干涉儀和FP干涉儀; S2.利用所述Fizeau干涉儀對激光波長進行粗測,確定其波長位于FP干涉儀的一個自由光譜范圍內(nèi); S3.通過光電探測器分別檢測FP干涉儀的透射光強和反射光強,并計算兩者的光強比值; S4.調(diào)節(jié)所述FP干涉儀的腔長或所述待測激光的頻率,獲取所述光強比值隨調(diào)節(jié)量的變化方向; S5.根據(jù)所述光強比值、所述變化方向及預(yù)先校準(zhǔn)的響應(yīng)曲線,確定所述待測激光的唯一波長值;所述響應(yīng)曲線為:A與B的映射關(guān)系;A為干涉儀的透射光強與反射光強的比值,B為波長。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人華翊博奧(北京)量子科技有限公司,其通訊地址為:100000 北京市大興區(qū)北京經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)科谷一街10號院11號樓1層101(北京自貿(mào)試驗區(qū)高端產(chǎn)業(yè)片區(qū)亦莊組團);或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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