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龍圖騰網獲悉株式會社島津制作所申請的專利質量分析裝置和方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114223049B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202080057784.5，技術領域涉及：H01J49/06；該發明授權質量分析裝置和方法是由R·吉爾斯;A·吉爾斯設計研發完成，并于2020-08-28向國家知識產權局提交的專利申請。

本質量分析裝置和方法在說明書摘要公布了：一種帶電粒子的操縱設備1，該設備包括：系列電極2,3，被設置為形成用于傳輸帶電粒子的通道；電源單元5,6，向軸向分段聚束電極提供電源電壓，以便在所述通道內產生限定電位的電場，該勢阱在局部最大值50,51之間具有一個或多個局部最小值。限定了沿至少一部分長度平移的勢阱通道。軸向提取區域54，包括限定所述通道的末段的電極。它們接收所述電源電壓以在所述通道內產生贗勢，使得勢阱的深度根據在其中傳輸的帶電粒子的質荷比mz變化，并隨著所述勢阱的局部最大值軸向地朝向和或沿著軸向提取區域平移而減小從而在各個不同的時間釋放不同質荷比mz的傳輸帶電粒子。

本發明授權質量分析裝置和方法在權利要求書中公布了：1.一種帶電粒子的操縱設備，該設備包括： 系列電極，被設置為形成用于傳輸帶電粒子的通道； 電源單元，適于向如下部分提供電源電壓： 所述系列電極中的軸向分段聚束電極，以便在所述通道內產生限定電位的電場，該電位在局部最大值之間具有一個或多個局部最小值，限定了沿至少一部分長度平移的勢阱通道，和 所述系列電極中的徑向限制電極，以便在所述通道內產生徑向限制電場，所述徑向限制電場被配置為將帶電粒子徑向限制在所述通道內； 軸向提取區域，包括所述系列電極中的電極，該電極至少設置在或限定在所述設備的所述通道的末端并且被布置成接收電源電壓以產生電場，該電場在所述通道內定義有贗勢，使得勢阱的深度根據在其中傳輸的帶電粒子的質荷比mz變化，并且， 所述設備配置為在提取區域處和附近形成邊緣場以減小平移勢阱的前壁的高度，使得所述勢阱的局部最大值的高度隨著其朝向和或通過所述提取區域行進而減小；或者， 所述設備配置為在所述提取區域附近施加內部或外部直流電勢以減小所述平移勢阱的前壁的高度，使得所述勢阱的局部最大值的高度隨著其朝向和或通過所述提取區域行進而減小；或者， 其中，所述平移勢阱不是贗勢阱，而是所述勢阱平移到鄰接并向上移動到單獨的贗勢壘，使得所述勢阱的局部最小值的高度隨著其朝向和或通過所述提取區域行進而增加； 并隨著所述勢阱的局部最大值軸向地朝向和或沿著所述軸向提取區域平移，勢阱的軸向平移導致勢阱的深度減小，從而在各個不同的時間釋放不同質荷比mz的傳輸帶電粒子。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人株式會社島津制作所，其通訊地址為：日本國京都府；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。