雷費恩有限公司約西亞·凱恩獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉雷費恩有限公司申請的專利用于優化的干涉散射顯微鏡的方法和裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115516362B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202180022439.2，技術領域涉及：G02B21/14；該發明授權用于優化的干涉散射顯微鏡的方法和裝置是由約西亞·凱恩;馬克斯·費利克斯·漢特克;劉易斯·卡爾尼設計研發完成，并于2021-03-15向國家知識產權局提交的專利申請。
本用于優化的干涉散射顯微鏡的方法和裝置在說明書摘要公布了：一種通過干涉散射顯微鏡對樣品成像的方法，該方法包括：使用至少一個光源對樣品進行照射，樣品被保持在包括反射表面的樣品位置處，使得形成反射信號，反射信號包括來自所述光源的光以及由所述樣品散射的光；在第一幀N1的第一時間窗中檢測輸出光；在第二幀N2的第二時間窗中檢測輸出光；計算比率測量信號R，R為N1與N2的比減去1；根據幀N1和N2估計比率測量運動特征S＝Sx，Sy，其中S被定義為比率測量圖像，其是根據沿x和y移動給定的運動矢量m＝mx，my的不變樣品所測量的；將m估計為最一致矢量，使得使用S和m來近似R；以及根據R、S和M，計算校正的比率測量對比度圖像R*。
本發明授權用于優化的干涉散射顯微鏡的方法和裝置在權利要求書中公布了：1.一種通過干涉散射顯微鏡對樣品成像的方法，所述方法包括： 使用至少一個光源對樣品進行照射，所述樣品被保持在包括反射表面的樣品位置處，使得形成輸出光，所述輸出光包括從所述樣品位置反射的照射光以及從所述樣品位置散射的光； 在第一幀N1的第一時間窗中檢測所述輸出光； 在第二幀N2的第二時間窗中檢測所述輸出光； 計算比率測量信號R，R為N1與N2的比減去1； 根據所述第一幀N1和所述第二幀N2估計比率測量運動特征S=（Sx，Sy），S為比率測量圖像，所述比率測量圖像是根據沿x和y移動給定的運動矢量m=（mx，my）的不變樣品所測量的； 將m估計為最一致矢量，使得使用S和m來近似R；以及 根據R、S和M，計算校正的比率測量對比度圖像R*； 其中，所述校正的比率測量對比度圖像R*被計算為： R*=R–（mxSx+mySy）。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人雷費恩有限公司，其通訊地址為：英國牛津；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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