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龍圖騰網獲悉貴州民族大學申請的專利一種光學元件表面缺陷檢測方法及相關設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN116519695B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211555967.7，技術領域涉及：G01N21/88；該發明授權一種光學元件表面缺陷檢測方法及相關設備是由李林福;張傳博;楊繼啟;歐建開;曾正設計研發完成，并于2022-12-06向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種光學元件表面缺陷檢測方法及相關設備在說明書摘要公布了：本申請實施例公開了一種光學元件表面缺陷檢測方法及相關設備，能夠有效的去除光學元件表面的紋理特征，將光學元件表面的缺陷進行分離，準確的獲知光學元件存在的缺陷，具有方向識別性好，分離準確，完整的提取缺陷特征的優點，在精密光學檢測和表面計量中具有重要應用價值。本申請包括：采用NSST對精密光學元件的表面數據進行分解，以分解得到若干個尺度不同方向不同的標準子塊；使用L0梯度最小化消除除最高尺度子塊外所有標準子塊的紋理數值，以獲取若干個只含有不同尺度和方向缺陷的目標子塊，所述最高尺度子塊為表示光學元件表面加工時的刀痕紋理信息；對所述若干個目標子塊使用NSST逆變換，得到所述精密光學元件表面缺陷的數據。

本發明授權一種光學元件表面缺陷檢測方法及相關設備在權利要求書中公布了：1.一種光學元件表面缺陷檢測方法，其特征在于，包括： 確定精密光學元件的檢測區域； 設定所述檢測區域中相鄰兩個數據點之間的預設距離； 獲取所述檢測區域中所述數據點的個數； 根據所述預設距離和所述檢測區域中所述數據點的個數獲取所述檢測區域中存在的刀痕、坑包和劃痕的表面數據； 采用NSST對精密光學元件的表面數據進行分解，以分解得到若干個尺度不同方向不同的標準子塊； 將若干個標準子塊進行歸一化處理，分別計算不同標準子塊的標準差，以獲取得到最高尺度子塊，所述最高尺度子塊表示光學元件表面加工時的刀痕紋理信息； 確定L0梯度最小化的函數為： 其中，IP表示輸入P處的表面數據，SP表示輸出P處表面數據的運算結果，表示表面數據P處的梯度，λ為控制平滑權重的參數，λ＝nσn＝1、2、3......，σ為標準差； 將所述最高尺度子塊置變為0矩陣； 對所述若干個標準子塊使用NSST逆變換，得到所述精密光學元件表面缺陷的數據。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人貴州民族大學，其通訊地址為：550025 貴州省貴陽市花溪區董家堰；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。