中國科學院西安光學精密機械研究所王斌浩獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學院西安光學精密機械研究所申請的專利馬赫曾德爾干涉儀級聯梳狀濾波器及波分復用/解復用器獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116381862B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202310060307.X,技術領域涉及:G02B6/28;該發明授權馬赫曾德爾干涉儀級聯梳狀濾波器及波分復用/解復用器是由王斌浩;薛錦濤;任洋明設計研發完成,并于2023-01-18向國家知識產權局提交的專利申請。
本馬赫曾德爾干涉儀級聯梳狀濾波器及波分復用/解復用器在說明書摘要公布了:本發明涉及一種馬赫曾德爾干涉儀級聯梳狀濾波器及波分復用解復用器,以解決現有級聯馬赫曾德爾干涉儀的波分復用器引入波長敏感性,以及不適用橫磁波的技術問題。該濾波器包括n級相接的梳狀濾波單元,第m級梳狀濾波單元包括2m個梳狀濾波器,每個梳狀濾波器包括a個馬赫曾德爾干涉儀,馬赫曾德爾干涉儀包括沿光波的傳輸方向依次設置第一光耦合組件、傳輸波導及第二光耦合組件;傳輸波導中第一路傳輸波導設置有相位延時波導,TE偏振光和TM偏振光經過相位延時波導后,TE偏振與TM偏振光之間的相位差為2πA,A為正整數,且TE偏振光和TM偏振光的群折射率差在15%以內。
本發明授權馬赫曾德爾干涉儀級聯梳狀濾波器及波分復用/解復用器在權利要求書中公布了:1.一種馬赫曾德爾干涉儀級聯梳狀濾波器,其特征在于: 包括n級相接的梳狀濾波單元,第m級梳狀濾波單元包括2m-1個梳狀濾波器,第m-1級梳狀濾波單元中的各個梳狀濾波器均具有兩個輸出端,分別與第m級梳狀濾波單元中對應的兩個梳狀濾波器的輸入端相接,n≥1且為整數,m=2,…,n; 所述梳狀濾波器包括a個馬赫曾德爾干涉儀1,a≥1且為整數; 所述馬赫曾德爾干涉儀1包括沿光波的傳輸方向依次設置第一光耦合組件11、傳輸波導16及第二光耦合組件12;所述傳輸波導16包括第一路傳輸波導和第二路傳輸波導,第一路傳輸波導設置有相位延時波導14,TE偏振光和TM偏振光經過相位延時波導14后,TE偏振與TM偏振光之間的相位差為2πA,A為正整數,且TE偏振光和TM偏振光的群折射率差在15%以內; 第一光耦合組件11包括第一耦合器及設置在第一耦合器兩端的兩路第一耦合器輸入波導17和兩路第一耦合器輸出波導,第二光耦合組件12包括第二耦合器及設置在第二耦合器兩端的兩路第二耦合器輸入波導和兩路第二耦合器輸出波導18,兩路第一耦合器輸出波導分別與第一路傳輸波導、第二路傳輸波導的輸入端相接,第一路傳輸波導和第二路傳輸波導的輸出端分別與兩路第二耦合器輸入波導相接; 第b-1個馬赫曾德爾干涉儀1的第二光耦合組件12同時作為第b個馬赫曾德爾干涉儀1的第一光耦合組件11,其中,b=2,…,a; 第a個馬赫曾德爾干涉儀1的兩路第二耦合器輸出波導18與下一級梳狀濾波單元中對應的兩個梳狀濾波器的第1個馬赫曾德爾干涉儀1的第一光耦合組件11相接。
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