中國石油大學(北京)張立娟獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國石油大學(北京)申請的專利一種分散體系在多孔介質中孔隙尺寸下滯留率的測定方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN118914015B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411029158.1，技術領域涉及：G01N15/00；該發明授權一種分散體系在多孔介質中孔隙尺寸下滯留率的測定方法是由張立娟;岳湘安;鄒積瑞;王振;安維青;徐鑫設計研發完成，并于2024-07-30向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種分散體系在多孔介質中孔隙尺寸下滯留率的測定方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種分散體系在多孔介質中孔隙尺寸下滯留率的測定方法。它包括如下步驟：1）將分散體系通過一系列孔徑尺寸的均一孔徑多孔介質模型濾過，記錄濾過時間和濾過體積，得到濾過體積與濾過時間的關系，以確定某一孔徑多孔介質達到穩定滯留所需的時間；檢測達到穩定滯留所需的時間時過濾后溶液的質量濃度，計算，得到該孔徑的均一多孔介質的滯留率；2）擬合步驟1）得到的滯留率與對應孔隙孔徑之間的關系曲線，得到滯留率與孔徑的計算公式；3）根據待測儲層巖心的氣測滲透率和孔喉尺度分布，由孔喉直徑的占比進行加權累加每種孔喉直徑條件下的滯留率，即得到該氣測滲透率下待測儲層巖心的總滯留后滯留率。本發明能測定滯留率并預測。
本發明授權一種分散體系在多孔介質中孔隙尺寸下滯留率的測定方法在權利要求書中公布了：1.一種分散體系在多孔介質中孔隙尺寸下滯留率的測定方法，包括如下步驟：1）將分散體系通過一系列孔徑尺寸的均一孔徑多孔介質模型濾過，記錄濾過時間和濾過體積，得到濾過體積與濾過時間的關系，以確定某一孔徑多孔介質達到穩定滯留所需的時間；檢測達到穩定滯留所需的時間時過濾后溶液的質量濃度，根據式Ⅰ計算，得到該孔徑的所述均一多孔介質的滯留率； 式Ⅰ中，RC為均一多孔介質的滯留率，C 0為原始濃度，C 1為過濾后溶液的質量濃度； 2）擬合步驟1）得到的滯留率與對應孔隙孔徑之間的關系曲線，得到滯留率與孔徑的計算公式； 3）根據待測儲層巖心的氣測滲透率和孔喉尺度分布，由所述孔喉直徑的占比進行加權累加每種孔喉直徑條件下的滯留率，即得到該氣測滲透率下待測儲層巖心的總滯留后滯留率。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國石油大學(北京)，其通訊地址為：102249 北京市昌平區府學路18號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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