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龍圖騰網獲悉武漢大學申請的專利一種利用溶劑揮發測量量子點表面-配體之間熱力學數據的方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119574517B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411672591.7，技術領域涉及：G01N21/64；該發明授權一種利用溶劑揮發測量量子點表面-配體之間熱力學數據的方法是由蔣風雷;金詣柔;劉夢;郭子軒設計研發完成，并于2024-11-21向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種利用溶劑揮發測量量子點表面-配體之間熱力學數據的方法在說明書摘要公布了：本發明涉及材料及物理化學領域，具體涉及一種利用溶劑揮發測量量子點表面?配體之間熱力學數據的方法，包括以下步驟：配置一定濃度的配體修飾的量子點有機溶劑溶液，靜置至熒光強度穩定；測定所述有機溶劑在目標溫度下的揮發速率；在同一環境中，將配置好的量子點有機溶劑溶液進行揮發，并實時檢測量子點的熒光強度，得到實時的熒光強度隨時間變化的熒光強度?時間曲線；將得到的熒光強度?時間曲線通過熒光強度?溶劑揮發?量子產率的關系換算得到在t時刻配體密度和量子點量子產率之間的數據關系，進而能夠采用數據關系通過修正的KSV方程得到熱力學數據。本發明的方法簡單、準確具有實際的可操作性。

本發明授權一種利用溶劑揮發測量量子點表面-配體之間熱力學數據的方法在權利要求書中公布了：1.一種利用溶劑揮發測量量子點表面-配體之間熱力學數據的方法，其特征在于：包括以下步驟： （1）配置一定濃度的配體修飾的量子點有機溶劑溶液，靜置至熒光強度穩定； （2）測定所述有機溶劑在目標溫度下的揮發速率； （3）在同一環境中，將配置好的量子點有機溶劑溶液進行揮發，并實時檢測量子點的熒光強度，得到實時的熒光強度隨時間變化的熒光強度-時間曲線； （4）將得到的熒光強度-時間曲線通過熒光強度-溶劑揮發-量子產率的關系換算得到在t時刻配體密度和量子點量子產率之間的數據關系，進而能夠采用數據關系通過修正后的KSV方程得到熱力學數據； 步驟（4）中，修正前的KSV方程為：， 其中F0為材料的初始熒光強度，FT是隨著時間t后的熒光強度，[Q]是相應底物的濃度； 由于熒光產生和猝滅的機理有所不同，引入熒光校正系數fa對Ksv方程進行修正，則修正好的Ksv方程為： ； 式中，Ka是結合常數，F0F0-Ft對[Q]-1進行線性擬合，斜率為faKa-1，截距為fa -1，結合常數Ka為截距與斜率的商。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人武漢大學，其通訊地址為：430072 湖北省武漢市武昌區八一路299號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。