中國科學院光電技術研究所劉洋獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學院光電技術研究所申請的專利一種內置渦旋光的平面衍射拼接望遠鏡自共相檢測方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120177004B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510662497.1,技術領域涉及:G01M11/02;該發明授權一種內置渦旋光的平面衍射拼接望遠鏡自共相檢測方法是由劉洋;宋英本;馬浩統;任戈;亓波設計研發完成,并于2025-05-22向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種內置渦旋光的平面衍射拼接望遠鏡自共相檢測方法在說明書摘要公布了:本發明公開了一種內置渦旋光的平面衍射拼接望遠鏡自共相檢測方法,屬于光學成像望遠鏡技術領域。所述方法利用系統內部光源作為信標光,使光束先逆成像方向經過光學系統并以平行光形式出射,再由主鏡前表面反射后重新進入光學系統,形成攜帶共相誤差信息的探測光束;隨后,該探測光束與系統中的渦旋光束在像面上產生干涉,通過實時獲取與處理干涉條紋,在正逆向誤差的共同作用下提取主鏡的姿態信息,可實現對拼接鏡面活塞與傾斜誤差的解耦與校正,從而顯著提升誤差校正的精度和系統整體性能。此外,系統內配置兩個探測器可同時實現干涉條紋探測和系統成像,并且信標光源取自系統內部,克服了傳統方法對外部信標光的高度依賴。
本發明授權一種內置渦旋光的平面衍射拼接望遠鏡自共相檢測方法在權利要求書中公布了:1.一種內置渦旋光的平面衍射拼接望遠鏡自共相檢測方法,其特征在于,所述方法包括: 步驟1、在平面衍射拼接望遠鏡系統中利用透鏡將內置信標光源準直,利用分束器將準直后的光束分為兩路,其中一路作為參考光束,攜帶軌道角動量信息,另一路作為探測光束,經過主鏡外表面反射后攜帶望遠鏡主鏡的共相誤差;所述平面衍射拼接望遠鏡系統包括沿成像方向依次布置的望遠鏡主鏡、中繼次鏡、分束器、第二探測器,以及沿逆成像方向布置在分束器、第二探測器之間的相位調制器;利用激光器在平面衍射拼接望遠鏡焦點處發射信標光源反向照射望遠鏡主鏡,分束器將準直后的信標光源分為兩路,其中一路經螺旋相位板調制為渦旋光束,渦旋光束作為參考光束依次經過第一反射鏡、第二反射鏡后被第二探測器接收;另一路沿著平面衍射拼接望遠鏡系統的逆成像方向傳播,依次經過中繼次鏡、望遠鏡主鏡,以平行光形式出射,其中,部分光束被望遠鏡主鏡外表面反射至中繼次鏡,并沿系統成像方向再次作為探測光束通過光學系統,透過分束器和會聚透鏡在第二探測器上與參考光束進行干涉; 步驟2、提取參考光束與探測光束在第二探測器產生的干涉條紋的坐標,利用最小二乘法擬合變形的費馬螺旋曲線參數,求解望遠鏡主鏡的徑向傾斜、切向傾斜誤差、活塞誤差; 步驟3、將所述徑向傾斜、切向傾斜誤差、活塞誤差信息傳遞給相位調制器,計算出每個子孔徑需要補償的活塞和傾斜姿態,通過相位調制器的活塞和傾斜實現共相誤差的精確補償及無共相誤差的清晰成像。
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