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龍圖騰網獲悉上海安其威微電子科技有限公司申請的專利用于測試待測單元射頻特性的測試系統及其校準方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120254575B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510756990.X，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權用于測試待測單元射頻特性的測試系統及其校準方法是由張欣蕾;蔡鵬設計研發完成，并于2025-06-06向國家知識產權局提交的專利申請。

本用于測試待測單元射頻特性的測試系統及其校準方法在說明書摘要公布了：本申請提供了一種用于測試待測單元射頻特性的測試系統及其校準方法。測試系統包括：數字波形發生模塊、電壓檢測模塊、校準模塊和校準檢波器，數字波形發生模塊向待測單元發送第一數字波形信號以模擬射頻輸入，也可向校準檢波器發送第二數字波形信號；電壓檢測模塊檢測待測單元輸出的第一電壓值，并接收校準檢波器響應第二信號生成的第二電壓值；校準模塊基于校準檢波器已知的輸入功率?電壓關系，將第二信號的等效射頻功率換算為目標電壓值，通過實測第二電壓值與目標值的差值，計算出傳輸路徑的功率損耗補償值，用于修正第一數字波形信號的功率輸出，確保待測單元接收的射頻信號不受路徑損耗影響，從而實現對射頻特性的準確檢測。

本發明授權用于測試待測單元射頻特性的測試系統及其校準方法在權利要求書中公布了：1.一種用于測試待測單元射頻特性的測試系統，其特征在于，所述測試系統包括： 數字波形發生模塊，用于生成第一數字波形信號；其中，所述第一數字波形信號用于模擬向所述待測單元輸入射頻功率信號； 電壓檢測模塊，接收并檢測第一電壓信號的第一電壓值；其中，所述第一電壓信號是所述待測單元在接收到所述第一數字波形信號后，輸出的信號，用于表征所述待測單元的射頻特性； 校準檢波器，所述校準檢波器的輸入射頻功率-輸出電壓關系已知；其中， 所述數字波形發生模塊，還用于向所述校準檢波器輸出第二數字波形信號； 所述電壓檢測模塊，還接收由所述校準檢波器輸出的第二電壓信號，檢測所述第二電壓信號的第二電壓值；其中，所述第二電壓信號是所述校準檢波器在接收到所述第二數字波形信號后，輸出的信號； 校準模塊，分別與所述數字波形發生模塊和所述電壓檢測模塊連接，被配置為： 獲取所述第二數字波形信號的等效射頻功率以及所述第二電壓值； 基于所述輸入射頻功率-輸出電壓關系，并根據所述第二數字波形信號的等效射頻功率，獲得目標電壓值；其中，所述目標電壓值為：所述第二數字波形信號在傳輸路徑中功率損耗為零時，所述校準檢波器在接收到所述第二數字波形信號之后輸出的電壓值；所述傳輸路徑為自所述數字波形發生模塊的輸出端至所述校準檢波器的輸入端之間的路徑； 根據所述第二電壓值與所述目標電壓值的差值，確定功率補償值，所述功率補償值用于補償所述第一數字波形信號。

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