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龍圖騰網(wǎng)獲悉中國(guó)市政工程?hào)|北設(shè)計(jì)研究總院有限公司申請(qǐng)的專(zhuān)利一種校正火焰原子吸收法干擾的方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專(zhuān)利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專(zhuān)利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN114660008B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-05發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專(zhuān)利申請(qǐng)?zhí)?專(zhuān)利號(hào)為：202210415661.5，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N21/31；該發(fā)明授權(quán)一種校正火焰原子吸收法干擾的方法是由胡瑩;閆鈺;俞雙;孫楊;王琪;關(guān)鶴達(dá);李太宇;張溶;趙丹丹設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-04-20向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專(zhuān)利申請(qǐng)。

本一種校正火焰原子吸收法干擾的方法在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本發(fā)明提供了一種校正火焰原子吸收法干擾的方法，包括：采用火焰原子吸收法檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)上特征濃度值的吸光度是否在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，若不在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)通過(guò)靈敏度調(diào)整進(jìn)行校正，直至使吸光度達(dá)到預(yù)設(shè)范圍；進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)的繪制，得到標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)；檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)最高段吸光度差和濃度差的比值與最低段吸光度差和濃度差的比值是否在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，若不在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，通過(guò)靈敏度調(diào)整進(jìn)行校正，得到校正后的標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)；采用校正后的標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)檢測(cè)環(huán)境樣品并進(jìn)行抗干擾操作，判斷是否存在干擾。本發(fā)明利用標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)結(jié)合合理提高降低靈敏度校正火焰原子吸收檢測(cè)的干擾，校正干擾后，對(duì)消除干擾的效果進(jìn)一步驗(yàn)證。

本發(fā)明授權(quán)一種校正火焰原子吸收法干擾的方法在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.一種校正火焰原子吸收法干擾的方法，包括： 采用火焰原子吸收法檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)上的特征濃度值的吸光度是否在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，若不在預(yù)設(shè)范圍通過(guò)靈敏度調(diào)整進(jìn)行校正，直至使吸光度達(dá)到預(yù)設(shè)范圍；所述特征濃度值的吸光度的預(yù)設(shè)范圍包括： 檢出限~5倍測(cè)定下限之間的濃度點(diǎn)，所述檢出限~5倍測(cè)定下限之間的濃度點(diǎn)的吸光度預(yù)設(shè)范圍為0~0.050； 5倍測(cè)定下限~10倍測(cè)定下限之間的濃度點(diǎn)，所述5倍測(cè)定下限~10倍測(cè)定下限之間的濃度點(diǎn)的吸光度預(yù)設(shè)范圍為0.050~0.100； 10倍測(cè)定下限~50倍測(cè)定下限之間的濃度點(diǎn)，所述10倍測(cè)定下限~50倍測(cè)定下限之間的濃度點(diǎn)的吸光度預(yù)設(shè)范圍為0.100~0.500； 進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)繪制，得到標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)； 檢測(cè)所述標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)最高段吸光度差和濃度差的比值與最低段吸光度差和濃度差的比值是否在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，若不在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)通過(guò)靈敏度調(diào)整進(jìn)行校正，直至達(dá)到預(yù)設(shè)范圍；得到校正后的標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)； 所述標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)最高段吸光度差和濃度差的比值與最低段吸光度差和濃度差的比值的預(yù)設(shè)范圍包括：將標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)平均分為5段，測(cè)定每段的吸光度差濃度差：若標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)最高點(diǎn)吸光度＞0.050，則最高段吸光度差濃度差與最低段吸光度差濃度差的比值≥0.9； 若標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)最高點(diǎn)吸光度＞0.100，則最高段吸光度差濃度差與最低段吸光度差濃度差的比值≥0.85； 若標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)最高點(diǎn)吸光度＞0.200，則最高段吸光度差濃度差與最低段吸光度差濃度差的比值≥0.8； 若標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)最高點(diǎn)吸光度＞0.300，則最高段吸光度差濃度差與最低段吸光度差濃度差的比值≥0.75； 若標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)最高點(diǎn)吸光度＞0.400，則最高段吸光度差濃度差與最低段吸光度差濃度差的比值≥0.7； 若最高段吸光度差和濃度差的比值與最低段吸光度差和濃度差的比值小于預(yù)設(shè)范圍，則提高靈敏度；若最高段吸光度差和濃度差的比值與最低段吸光度差和濃度差的比值大于預(yù)設(shè)范圍，則降低靈敏度；所述降低靈敏度的方法包括：檢測(cè)光路通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)孔洞時(shí)，旋轉(zhuǎn)燃燒頭角度，每次順時(shí)針旋轉(zhuǎn)5~10℃，直至達(dá)到預(yù)設(shè)范圍； 所述提高靈敏度的方法包括：檢測(cè)光路通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)孔洞的基礎(chǔ)上，調(diào)整燃燒頭高度，每次提高1.0~2.0nm，直至達(dá)到預(yù)設(shè)范圍； 采用校正后的標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)檢測(cè)環(huán)境樣品并進(jìn)行抗干擾操作，判斷是否存在干擾； 所述抗干擾操作的方法包括： 根據(jù)檢測(cè)環(huán)境樣品的濃度對(duì)環(huán)境樣品的平行樣進(jìn)行加標(biāo)或稀釋處理，包括，所述檢測(cè)環(huán)境樣品的濃度為C原始： 若1倍測(cè)定下限≤C原始＜4倍測(cè)定下限，則對(duì)平行樣加標(biāo)處理得到C加標(biāo)溶液，加標(biāo)倍數(shù)不低于1.25倍，不超過(guò)4倍； 若4倍測(cè)定下限≤C原始＜10倍測(cè)定下限，則對(duì)平行樣加標(biāo)或稀釋處理得到C加標(biāo)稀釋溶液，加標(biāo)或稀釋的C加標(biāo)稀釋溶液同時(shí)滿(mǎn)足：4倍測(cè)定下限≤C加標(biāo)稀釋?zhuān)?0倍測(cè)定下限； 若10倍測(cè)定下限≤C原始＜標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)次高點(diǎn)濃度，則對(duì)平行樣稀釋處理得到C稀釋?zhuān)?0倍測(cè)定下限≤C稀釋?zhuān)?若標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)次高點(diǎn)濃度≤C原始，則對(duì)平行樣兩次稀釋處理得到溶液CC1和CC2，CC1濃度＞CC2濃度，同時(shí)滿(mǎn)足：10倍測(cè)定下限≤CC1＜標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)次高點(diǎn)濃度，10倍測(cè)定下限≤CC2＜標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)次高點(diǎn)濃度； 若檢出限≤C原始＜測(cè)定下限，則對(duì)平行樣加標(biāo)處理得到C加標(biāo)溶液，10倍測(cè)定下限≤C加標(biāo)稀釋?zhuān)紭?biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)次高點(diǎn)； 若C原始＜檢出限，則測(cè)定平行樣7次； 所述判斷是否存在干擾的方法包括： 若1倍測(cè)定下限≤C原始＜4倍測(cè)定下限，則C原始=（85~115%）（1J加標(biāo)）×C加標(biāo)，視為檢測(cè)中沒(méi)有干擾； 若4倍測(cè)定下限≤C原始＜10倍測(cè)定下限，則C原始=（90~110%）（N稀釋或1J加標(biāo)）×C加標(biāo)稀釋?zhuān)暈闄z測(cè)中沒(méi)有干擾； 若10倍測(cè)定下限≤C原始＜標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)次高點(diǎn)濃度，則C原始=（95~105%）N稀釋×C稀釋?zhuān)暈闄z測(cè)中沒(méi)有干擾； 若標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)次高點(diǎn)濃度≤C原始，則N稀釋1CC1=（95~105%）N稀釋2×CC2，視為檢測(cè)中沒(méi)有干擾； 若檢出限≤C原始＜測(cè)定下限，則C原始=（75~125%）（1J加標(biāo)）×C加標(biāo)，視為檢測(cè)中沒(méi)有干擾。

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