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龍圖騰網(wǎng)獲悉浙江地芯引力科技有限公司申請的專利芯片檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN114994513B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-05發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202210769972.1，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/28；該發(fā)明授權(quán)芯片檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)是由金煜昊;李紹瑜;呂后陽設(shè)計研發(fā)完成，并于2022-07-01向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本芯片檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)在說明書摘要公布了：本申請?zhí)岢鲆环N芯片檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，該芯片檢測方法，基于預(yù)設(shè)檢測電路，預(yù)設(shè)檢測電路包括依次連接的芯片接口、上拉電阻及電源接口，芯片接口用于接入待測芯片，且芯片接口和電源接口均連接單片機；方法包括：基于預(yù)設(shè)檢測電路，獲取待測芯片在至少一個影響參數(shù)的值發(fā)生變化過程中，不同參數(shù)值對應(yīng)的接收命令回復(fù)數(shù)據(jù)的總時長；根據(jù)各參數(shù)值對應(yīng)的總時長和相同條件下預(yù)設(shè)基準芯片的基準總時長，確定待測芯片是否滿足預(yù)設(shè)基準芯片的性能參數(shù)。本申請能夠大大提高區(qū)分檢測的準確性，減少傳統(tǒng)方法造成的誤判和漏判現(xiàn)象。

本發(fā)明授權(quán)芯片檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種芯片檢測方法，其特征在于，基于預(yù)設(shè)檢測電路，所述預(yù)設(shè)檢測電路包括依次連接的芯片接口、上拉電阻及電源接口，所述芯片接口用于接入待測芯片，且所述芯片接口和所述電源接口均連接單片機；所述方法包括： 基于所述預(yù)設(shè)檢測電路，獲取所述待測芯片在至少一個影響參數(shù)的值發(fā)生變化過程中，不同參數(shù)值對應(yīng)的接收命令回復(fù)數(shù)據(jù)的總時長； 根據(jù)各參數(shù)值對應(yīng)的總時長和相同條件下預(yù)設(shè)基準芯片的基準總時長，確定所述待測芯片是否滿足所述預(yù)設(shè)基準芯片的性能參數(shù)； 獲取所述待測芯片在至少一個影響參數(shù)的值發(fā)生變化過程中，不同參數(shù)值對應(yīng)的接收命令回復(fù)數(shù)據(jù)的總時長，包括： 獲取所述待測芯片在輸入電壓發(fā)生變化的過程中，不同輸入電壓值對應(yīng)的接收命令回復(fù)數(shù)據(jù)的總時長。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人浙江地芯引力科技有限公司，其通訊地址為：311215 浙江省杭州市蕭山區(qū)建設(shè)三路733號信息港五期H座111；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。